[發(fā)明專(zhuān)利]微型器件轉(zhuǎn)移頭及其制造方法、微型發(fā)光二極管的轉(zhuǎn)移方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010742822.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111987036A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張良玉;朱充沛;高威;周宇;黃洪濤 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/683 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/683;H01L21/677;H01L21/67;H01L33/48 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微型 器件 轉(zhuǎn)移 及其 制造 方法 發(fā)光二極管 | ||
1.一種微型器件轉(zhuǎn)移頭,其特征在于,包括襯底基板、位于襯底基板上且陣列排布的多個(gè)高臺(tái)、位于高臺(tái)上的凹槽以及位于凹槽底部的有機(jī)粘附層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭,其特征在于,所述凹槽的深度小于微型發(fā)光二極管的高度,凹槽的底部寬度大于微型發(fā)光二極管的寬度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭,其特征在于,所述凹槽的開(kāi)口形狀為圓形或多邊形。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭,其特征在于,所述微型器件轉(zhuǎn)移頭的材質(zhì)為玻璃。
5.一種微型器件轉(zhuǎn)移頭的制造方法,用于制造權(quán)利要求1-4任一所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭,其特征在于,包括以下步驟:
S01:在基礎(chǔ)襯底上涂布第一光阻,曝光顯影后形成陣列分布的多個(gè)光阻柱;
S02:沉積第一金屬層,包括Cr金屬層和Au金屬層;
S03:剝離光阻柱以及位于光阻柱上方的第一金屬層,剩余在基礎(chǔ)襯底上的第一金屬層形成阻擋層;
S04:刻蝕基礎(chǔ)襯底形成陣列分布的多個(gè)高臺(tái)以及位于高臺(tái)底部的襯底基板;
S05:涂布第二光阻并對(duì)其圖案化,刻蝕阻擋層形成位于阻擋層中間的第一開(kāi)孔,之后去除第二光阻;
S06:刻蝕位于第一開(kāi)孔內(nèi)的高臺(tái)形成凹槽,之后去除阻擋層;
S07:在凹槽底部形成有機(jī)粘附層。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭的制造方法,其特征在于,步驟S07之前增加以下步驟:對(duì)微型器件轉(zhuǎn)移頭進(jìn)行等離子體清潔處理。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭的制造方法,其特征在于,
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭的制造方法,其特征在于,高臺(tái)的高度≥10μm。
9.一種微型發(fā)光二極管的轉(zhuǎn)移方法,使用權(quán)利要求1-3任一所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭,其特征在于,轉(zhuǎn)移方法包括以下步驟:
S1:暫態(tài)基板上的微型發(fā)光二極管與凹槽內(nèi)的有機(jī)粘附層對(duì)位貼合;
S2:先降溫至露點(diǎn)在凹槽與微型發(fā)光二極管的貼合處形成觸及微型發(fā)光二極管側(cè)壁的水膜,再次降溫至冰點(diǎn)使水膜結(jié)冰;
S3:移走暫態(tài)基板,微型發(fā)光二極管留在微型器件轉(zhuǎn)移頭上;
S4:轉(zhuǎn)移微型發(fā)光二極管至驅(qū)動(dòng)背板的鍵合電極上升溫進(jìn)行鍵合;
S5:鍵合完成后移走微型器件轉(zhuǎn)移頭。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的微型器件轉(zhuǎn)移頭的制造方法,其特征在于,微型發(fā)光二極管底部包括電極層和鍵合層。
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H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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