[發(fā)明專利]一種瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)及其測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010735256.2
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111766438A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李興冀;楊劍群;呂鋼
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25
• 代理公司: 北京隆源天恒知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11473
• 代理人: 徐蘇明

1.一種瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，包括能量注入模塊、SET感應模塊和采樣模塊，所述能量注入模塊與所述SET感應模塊連接，所述采樣模塊與所述SET感應模塊連接；

所述能量注入模塊用于將被測電流導入所述SET感應模塊；

所述SET感應模塊用于基于所述被測電流產(chǎn)生SET波形；

所述采樣模塊用于對所述SET波形采樣。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括電源模塊，所述電源模塊與所述SET感應模塊連接并為所述SET感應模塊提供電源。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電源模塊為偏置電源，所述偏置電源用于為所述SET感應模塊提供穩(wěn)定電源以使所述SET感應模塊處于臨界工作狀態(tài)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括濾波模塊，所述濾波模塊分別與所述SET感應模塊及所述采樣模塊連接，所述濾波模塊用于對所述SET波形濾波，所述采樣模塊用于對濾波后的所述SET波形采樣。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述濾波模塊為基于運算放大器的二階濾波器。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括修正模塊，所述修正模塊與所述采樣模塊連接，所述修正模塊用于修正采樣后的所述SET波形，以生成瞬態(tài)電流信號曲線。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述修正模塊為ARM控制器或DSP控制器。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述SET感應模塊包括SET敏感器件和放大電路，其中，所述SET敏感器件用于在接收所述被測電流后實現(xiàn)信號幅度展寬。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述采樣模塊為AD轉(zhuǎn)換器，所述AD轉(zhuǎn)換器用于對所述SET波形進行低速采樣。

10.一種瞬態(tài)電流的測試方法，其特征在于，基于權(quán)利要求1至9任一項所述的瞬態(tài)電流測試系統(tǒng)，包括：

通過能量注入模塊(2)將被測電流導入SET感應模塊(3)；

通過所述SET感應模塊(3)基于被測電流產(chǎn)生SET波形；

通過采樣模塊(5)對所述SET波形采樣。