[發(fā)明專利]一種帶磁芯的微型化三維電感制作方法和結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010731103.0 | 申請日: | 2020-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN112086282B | 公開(公告)日: | 2022-05-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 薛愷;鐘智勇;鄭宗森;葉根祥;林志濱;王康 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué);廈門云天半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號: | H01F41/04 | 分類號: | H01F41/04;H01F41/02;H01F27/28;H01F27/24 |
| 代理公司: | 廈門市首創(chuàng)君合專利事務(wù)所有限公司 35204 | 代理人: | 連耀忠;林燕玲 |
| 地址: | 610000 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 帶磁芯 微型 三維 電感 制作方法 結(jié)構(gòu) | ||
一種帶磁芯的微型化三維電感的制作方法和結(jié)構(gòu),包括如下步驟:1)在磁性襯底上制作至少一微槽結(jié)構(gòu);2)在隱性框架襯底上制作若干通孔,并往通孔內(nèi)填充金屬材料;3)對隱性框架襯底進(jìn)行切割構(gòu)成若干具有的金屬材料的隱性框架,將隱性框架嵌入微槽結(jié)構(gòu)內(nèi)并固定;4)在磁性襯底的正面和背面分別制作第一平面互聯(lián)結(jié)構(gòu)和第二平面互聯(lián)結(jié)構(gòu),該第一平面互聯(lián)結(jié)構(gòu)和第二平面互聯(lián)結(jié)構(gòu)分別與隱性框架的金屬材料電性連接構(gòu)成至少一電感繞組。本發(fā)明實現(xiàn)了高容量的小型化電感器件。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及磁性材料加工、微電子工藝、磁性元器件領(lǐng)域,特別是一種三維電感的制作方法和結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品性能的提高,電子產(chǎn)品的小型化、輕量化和集成化的水平越來越高,系統(tǒng)工作頻率不斷提高,工作電壓越來越低,系統(tǒng)對信號傳輸?shù)馁|(zhì)量要求也越來越高,傳統(tǒng)的解決方案已經(jīng)無法完全適應(yīng)新技術(shù)對高密度系統(tǒng)集成的技術(shù)要求;同時,無源器件的小型化和集成化也已經(jīng)成為制約電子系統(tǒng)發(fā)展的重要瓶頸問題。為了解決這一問題,研發(fā)人員開發(fā)出了多種沉積磁心薄膜的加工方法,例如篩網(wǎng)印刷、濺射和電鍍等。但是用篩網(wǎng)印刷成膜的鐵氧體層要在900~1000℃的溫度下燒結(jié),這是與標(biāo)準(zhǔn)型集成電路制造工藝不相容的;用濺射工藝制作的磁心厚度有限,成本較高,限制了該技術(shù)的產(chǎn)業(yè)化發(fā)展;使用電鍍成膜的磁性材料磁心的電感Q值一般比用濺射技術(shù)或用篩網(wǎng)印制技術(shù)成膜材料的Q值低,主要原因是由磁性材料的電導(dǎo)率引起的,在電感器的工作頻率增高時,磁心的渦流損耗將增大。除了磁性材料與微電子工藝的兼容性外,半導(dǎo)體工藝一般都是平面工藝,只能實現(xiàn)片式電感,很大程度上限制了電感的性能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷,提出一種帶磁芯的微型化三維電感制作方法和結(jié)構(gòu),利用微電子工藝技術(shù)實現(xiàn)三維互聯(lián)和線圈制作,實現(xiàn)了高容量的小型化電感器件。
本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種帶磁芯的微型化三維電感的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)在磁性襯底上制作至少一微槽結(jié)構(gòu);
2)在隱性框架襯底上制作若干通孔,并往通孔內(nèi)填充金屬材料;
3)對隱性框架襯底進(jìn)行切割構(gòu)成若干具有的金屬材料的隱性框架,將隱性框架嵌入微槽結(jié)構(gòu)內(nèi)并固定;
4)在磁性襯底的正面和背面分別制作第一平面互聯(lián)結(jié)構(gòu)和第二平面互聯(lián)結(jié)構(gòu),該第一平面互聯(lián)結(jié)構(gòu)和第二平面互聯(lián)結(jié)構(gòu)分別與隱性框架的金屬材料電性連接構(gòu)成至少一電感繞組。
優(yōu)選的,采用激光刻蝕、等離子體轟擊、噴砂或超聲波刻蝕制作所述微槽結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選的,所述微槽結(jié)構(gòu)為盲孔或通孔,微槽結(jié)構(gòu)的邊長為0.05-3mm。
優(yōu)選的,所述隱性框架襯底為硅、玻璃、陶瓷或有機(jī)基板,其厚度為0.05-3mm。
優(yōu)選的,步驟2)中,采用涂膠、光刻、曝光、顯影、刻蝕和去膠制作所述通孔。
優(yōu)選的,步驟2)中,往通孔內(nèi)填充金屬材料具體包括:先在隱性框架襯底的正面和背面制作金屬薄膜,利用電鍍工藝填充通孔。
優(yōu)選的,所述隱性框架的長度和寬度分別小于微槽結(jié)構(gòu)的長度和寬度;或者所述隱性框架的長度和寬度與微槽結(jié)構(gòu)的長度和寬度的差值在1um-400um之間。
優(yōu)選的,所述隱性框架的高度和通孔的高度的差值在-50um至+50um之間。
優(yōu)選的,采用膠類物質(zhì)將所述隱性框架固定于所述微槽結(jié)構(gòu)內(nèi)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于電子科技大學(xué);廈門云天半導(dǎo)體科技有限公司,未經(jīng)電子科技大學(xué);廈門云天半導(dǎo)體科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010731103.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種三維彩色物品制作方法
- 三維內(nèi)容顯示的方法、裝置和系統(tǒng)
- 三維對象搜索方法、裝置及系統(tǒng)
- 三維會話數(shù)據(jù)展示方法、裝置、存儲介質(zhì)和計算機(jī)設(shè)備
- 一種三維模型處理方法、裝置、計算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)
- 用于基于分布式賬本技術(shù)的三維打印的去中心化供應(yīng)鏈
- 標(biāo)記數(shù)據(jù)的獲取方法及裝置、訓(xùn)練方法及裝置、醫(yī)療設(shè)備
- 一種基于5G網(wǎng)絡(luò)的光場三維浸入式體驗信息傳輸方法及系統(tǒng)
- 用于機(jī)器人生產(chǎn)系統(tǒng)仿真的三維場景管理與文件存儲方法
- 基于三維形狀知識圖譜的三維模型檢索方法及裝置





