[發明專利]一種介質濾波器調試測試治具

在審

• 申請號: 202010724136.2
• 申請日: 2020-07-24
• 公開（公告）號: CN111751582A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 王波;朱暉;汪亮
• 申請（專利權）人: 武漢凡谷電子技術股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/073
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍

本發明實施例提供一種介質濾波器調試測試治具，通過增加限位板，在限位板上開設與射頻接地探針位置相匹配的階梯狀通孔，通過階梯狀通孔上的大孔徑段容納射頻接地探針的探針座，階梯狀通孔的小孔徑段對該探針座進行限位，使該射頻接地探針的探針頭從小孔徑段穿過并伸出第一高度，其中，該第一高度可以根據限位板、射頻接地探針的結構尺寸預先設計好。通過限位板上的階梯狀通孔對射頻接地探針進行限位固定，使得調試治具射頻接地探針能夠穩固不彈出，不易損壞；同時將濾波器和調試治具射頻信號接觸面改為彈性探針接觸，使得有效接觸次數＞10000次，且無任何損傷即彈出現象。

技術領域

本發明實施例涉及濾波器技術領域，尤其涉及一種介質濾波器調試測試治具。

背景技術

濾波器可以對電源線中特定頻率的頻點或該頻點以外的頻率進行有效濾除，得到一個特定頻率的電源信號，或消除一個特定頻率后的電源信號。濾波器的種類很多，分類方式也呈現多樣化，按所通過信號的頻段分為低通、高通、帶通和帶阻濾波器四種，按所處理的信號分為模擬濾波器和數字濾波器兩種。

濾波器在安裝前后需要進行調試，經調試后諧波指標等達到設計要求，避免濾波器的投入造成系統與濾波器的諧振而使諧波電流放大，防止損壞其它設備；此外，濾波器經調試投入系統以后，諧波電流流入濾波器不會導致濾波器的電容﹑電感、電阻發生穩態過負荷，防止對濾波器本體造成損壞。

現有技術在濾波器調試過程中，濾波器和調試治具射頻信號接觸面為硬接觸，且濾波器與調試治具射頻接地探針無限位，導致調試治具射頻信號接觸面易損壞，產線實際調試過程中，有效接觸次數＜1000次，需每天效驗調試治具更換接觸面焊片，且產品與調試治具射頻接地探針無限位導致探針易損壞、易彈出。

發明內容

本發明實施例提供一種介質濾波器調試測試治具，用以解決現有技術中產品與調試治具射頻接地探針無限位，射頻接地探針易損壞、易彈出，且調試治具射頻信號接觸面易損壞的問題。

本發明實施例提供一種介質濾波器調試測試治具，包括定位盒、PCB板、射頻信號接觸單元和射頻接地探針，所述定位盒上設有一側開口的腔體，所述PCB板設于所述腔體底部；所述射頻接地探針包括探針座和所述探針座上可伸縮的探針頭；所述PCB板與待測濾波器焊盤位置對應的位置設有若干PCB通孔，所述腔體底部與所述PCB通孔對應位置處設有若干底座盲孔，所述探針座埋入所述底座盲孔，并穿過所述PCB通孔向外伸出第一長度；其特征在于，

所述射頻信號接觸單元為彈性射頻信號接觸單元；

還包括限位板，所述限位板固定于所述PCB板上方，所述限位板上與所述PCB通孔對應位置處設有限位通孔，所述限位通孔為階梯狀通孔，所述階梯狀通孔包括大孔徑段和小孔徑段，所述大孔徑段臨近所述PCB板；所述大孔徑段的深度等于第一長度，且所述大孔徑段的直徑不小于所述探針座的直徑，所述小孔徑段的直徑不小于所述探針頭的直徑，所述小孔徑段的直徑小于所述探針座的直徑，以使所述限位板對所述射頻接地探針進行限位固定，并使所述探針頭從所述小孔徑段伸出，比所述限位板上表面高出第一高度。

作為優選的，所述彈性射頻信號接觸單元為彈性探針或彈片，所述彈性射頻信號接觸單元設在所述PCB板上；在自然伸縮狀態下，所述彈性射頻信號接觸單元的頂端比所述限位板的上表面高第二高度，在被壓縮至行程最底端時，所述彈性射頻信號接觸單元的頂端比所述限位板的上表面低第三高度。

作為優選的，所述第二高度為0.3～0.4mm，所述第三高度為0.2～0.3mm。

作為優選的，還包括固定件，所述腔體底部設有多個螺紋孔，所述固定件、所述PCB板和所述限位板上的對應位置上設有多個螺釘通孔；所述固定件通過螺釘將所述PCB板和所述限位板固定至所述腔體內。

作為優選的，所述腔體的兩側邊設有相對的測試接孔，所述測試接孔高度與腔體內所述PCB板高度相匹配，測試接口插入所述測試接孔并焊接至所述彈性射頻信號接觸單元。