[發(fā)明專利]一種芯片測試監(jiān)控方法、客戶端及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010721248.2 | 申請日: | 2020-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN111856249B | 公開(公告)日: | 2022-12-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 姜偉偉 | 申請(專利權(quán))人: | 安測半導(dǎo)體技術(shù)(江蘇)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京文苑專利代理有限公司 11516 | 代理人: | 于利曉 |
| 地址: | 225000 江蘇省揚(yáng)州市高*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 測試 監(jiān)控 方法 客戶端 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供了一種芯片測試監(jiān)控方法、客戶端及系統(tǒng),該方法包括S1:客戶端實(shí)時監(jiān)控預(yù)設(shè)路徑下預(yù)設(shè)文件名的目標(biāo)文件是否有變化;S2:當(dāng)監(jiān)控到目標(biāo)文件變化時,判斷目標(biāo)文件名與上一次解析文件是否相同;如果相同,記錄上一次解析停止點(diǎn),對目標(biāo)文件新增加的部分進(jìn)行解析,得到解析后的數(shù)據(jù);如果不相同,目標(biāo)文件為新文件,對新文件進(jìn)行解析,得到解析后的數(shù)據(jù);S3:將解析后的數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)庫;循環(huán)執(zhí)行步驟S1?S3。本申請中,增量解析算法保證了解析的高效,快速,減少了系統(tǒng)內(nèi)存消耗。而且實(shí)時監(jiān)控芯片測試過程中產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù),一旦發(fā)現(xiàn)超標(biāo)則觸發(fā)立即報警事件,對測試機(jī)立即停機(jī),避免大量的異常測試造成芯片批量報廢。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域,具體而言,涉及一種芯片測試監(jiān)控方法、客戶端及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體集成電路芯片的供應(yīng)鏈中,晶圓測試(Chip Probe)和成品測試(FinalTest)是非常重要的兩個檢測環(huán)節(jié),測試環(huán)節(jié)主要實(shí)現(xiàn)兩個作用:一是芯片電性及功能仿真測試;二是芯片性能優(yōu)化,電性參數(shù)修調(diào)(Trim),功能配置(config),標(biāo)記碼燒錄(code)等,其中優(yōu)化過程是有風(fēng)險的,如果優(yōu)化過程異常會導(dǎo)致芯片大批量報廢。經(jīng)過測試確定為良品的芯片才可以裝配到各種電子設(shè)備終端中。
因?yàn)闇y試環(huán)節(jié)如此重要,所以測試過程中需要對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,以確定芯片良率,參數(shù)分布,性能優(yōu)化結(jié)果等。其中,晶圓測試(CP)是以圓片為單位的,每批有25片晶圓(6寸,8寸,12寸等)。每個圓片測試結(jié)束測試機(jī)(ATE)會產(chǎn)生一份完整的測試數(shù)據(jù)。成品測試(FT)是以批為單位的,每批芯片數(shù)量從幾千顆到幾十萬顆不等,每批測試結(jié)束測試機(jī)(ATE)會產(chǎn)生一份完整的測試數(shù)據(jù)。但目前對于測試數(shù)據(jù)的分析耗費(fèi)大量的系統(tǒng)及人工。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決目前芯片測試數(shù)據(jù)分析耗費(fèi)大量的系統(tǒng)及人工的問題,本申請實(shí)施例提供了一種芯片測試監(jiān)控方法、客戶端及系統(tǒng)。
第一方面,本申請實(shí)施例提供了一種芯片測試監(jiān)控方法,包括步驟:
S1:客戶端實(shí)時監(jiān)控預(yù)設(shè)路徑下預(yù)設(shè)文件名的目標(biāo)文件是否有變化;
S2:當(dāng)監(jiān)控到所述目標(biāo)文件變化時,判斷目標(biāo)文件名與上一次解析文件是否相同;
如果相同,所述目標(biāo)文件為舊文件,記錄上一次解析停止點(diǎn),對所述目標(biāo)文件新增加的部分進(jìn)行解析,得到解析后的數(shù)據(jù);
如果不相同,所述目標(biāo)文件為新文件,對所述新文件進(jìn)行解析,得到解析后的數(shù)據(jù);
S3:將所述解析后的數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)庫;
循環(huán)執(zhí)行步驟S1-S3。
其中,所述步驟S1:客戶端實(shí)時監(jiān)控預(yù)設(shè)路徑下預(yù)設(shè)文件名的目標(biāo)文件是否有變化之前還包括:客戶端啟動。
其中,所述步驟S1:客戶端實(shí)時監(jiān)控預(yù)設(shè)路徑下預(yù)設(shè)文件名的目標(biāo)文件是否有變化,包括:
客戶端實(shí)時監(jiān)控預(yù)設(shè)路徑下,已有的預(yù)設(shè)文件名的目標(biāo)文件大小是否有變化,以及實(shí)時監(jiān)控預(yù)設(shè)路徑下是否有新增加的目標(biāo)文件。
其中,所述如果不相同,所述目標(biāo)文件為新文件,包括:如果不相同,所述目標(biāo)文件為新文件,將上一次解析停止點(diǎn)清零。
第二方面,本申請?zhí)峁┝艘环N芯片測試監(jiān)控客戶端,所述芯片測試監(jiān)控客戶端用于執(zhí)行上述任一項(xiàng)所述方法的步驟。
第三方面,本申請?zhí)峁┝艘环N測試機(jī),所述測試機(jī)用于執(zhí)行上述任一項(xiàng)所述方法的步驟,
第四方面,本申請實(shí)施例提供了一種芯片測試監(jiān)控系統(tǒng),包括上述芯片測試監(jiān)控客戶端,還包括數(shù)據(jù)庫、服務(wù)器、報警裝置、智能手指控制系統(tǒng)、機(jī)械手按指系統(tǒng);
所述芯片測試監(jiān)控客戶端用于解析芯片測試數(shù)據(jù),將解析得到的數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)庫;
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