[發(fā)明專利]陣列基板及其制造方法、顯示裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010697170.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111883486A | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡小波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/84 | 分類號(hào): | H01L21/84;H01L27/12;H01L29/786;G09F9/33 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 裴磊磊 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 及其 制造 方法 顯示裝置 | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N陣列基板及其制造方法、顯示裝置,制造方法包括如下步驟:于陣列基板上形成鈍化層,陣列基板包括薄膜晶體管以及導(dǎo)電墊,鈍化層覆蓋薄膜晶體管以及導(dǎo)電墊;于鈍化層形成上形成整面的碳膜;采用一次構(gòu)圖工藝對(duì)碳膜以及鈍化層進(jìn)行圖案化以去除導(dǎo)電墊對(duì)應(yīng)的鈍化層以及碳膜,得到陣列基板。通過以碳膜作為遮光層,且采用一道構(gòu)圖工藝完成碳膜以及鈍化層的圖案化,以減少光罩使用數(shù)目。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種陣列基板及其制造方法、顯示裝置。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管微型化發(fā)展成未來顯示技術(shù)的熱點(diǎn)之一,和目前的液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)以及有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light Emitting,OLED)顯示器件相比,具有反應(yīng)快、高色域、高分辨率(Pixels Per Inch,PPI)以及低能耗等優(yōu)勢(shì)。然而,發(fā)光二極管微型化技術(shù)難點(diǎn)多且技術(shù)復(fù)雜,特別是其關(guān)鍵技術(shù)巨量轉(zhuǎn)移技術(shù)、有機(jī)發(fā)光二極管(Light Emitting Diode,LED)顆粒微型化成為技術(shù)瓶頸,而亞毫米發(fā)光二極管(Mini-LED)背板作為微型發(fā)光二極管與背板結(jié)合的產(chǎn)物,其具有高對(duì)比度、高顯色性能等可與有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件相媲美的特點(diǎn),其成本稍高于液晶顯示器且僅為有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件的六成左右,相對(duì)微型發(fā)光二極管(Micro-LED)、有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件更易實(shí)施,所以亞毫米發(fā)光二極管成為各大面板廠商布局熱點(diǎn)。
如圖1所示,其為傳統(tǒng)亞毫米發(fā)光二極管背光模組的示意圖。傳統(tǒng)亞毫米發(fā)光二極管背光模組包括陣列層以及圖案化黑色有機(jī)光阻層104,陣列層包括薄膜晶體管101、用于綁定亞毫米發(fā)光二極管的導(dǎo)電電極102、用于綁定覆晶薄膜的綁定引腳(未示出)以及覆蓋薄膜晶體管101且使導(dǎo)電電極102以及綁定引腳顯露的鈍化層103,圖案化黑色有機(jī)光阻層104對(duì)應(yīng)薄膜晶體管101設(shè)置。由于鈍化層103的圖案化以及黑色有機(jī)光阻層的圖案化分別需要一個(gè)光罩,使得傳統(tǒng)亞毫米發(fā)光二極管背光模組的光罩使用數(shù)目較多。
因此,有必要提出一種技術(shù)方案以減少傳統(tǒng)亞毫米發(fā)光二極管背光模組制造過程中光罩的使用數(shù)目。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)的目的在于提供一種陣列基板及其制造方法、顯示裝置,以減少制造陣列基板所需的光罩使用數(shù)目。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N陣列基板的制造方法,所述制造方法包括如下步驟:
于陣列基板上形成鈍化層,所述陣列基板包括薄膜晶體管以及導(dǎo)電墊,所述鈍化層覆蓋所述薄膜晶體管以及所述導(dǎo)電墊;
于所述鈍化層上形成整面的碳膜;
采用一次構(gòu)圖工藝去除所述導(dǎo)電墊對(duì)應(yīng)的所述鈍化層以及所述碳膜,得到所述陣列基板。
在上述陣列基板的制造方法中,采用一次構(gòu)圖工藝去除所述導(dǎo)電墊對(duì)應(yīng)的所述鈍化層以及所述碳膜包括如下步驟:
于所述碳膜遠(yuǎn)離所述鈍化層的表面形成光阻層;
利用光罩對(duì)所述光阻層進(jìn)行曝光以及顯影液顯影后,得到圖案化光阻層;
利用等離子體與所述圖案化光阻層未覆蓋的所述碳膜進(jìn)行反應(yīng),以去除所述導(dǎo)電墊對(duì)應(yīng)的碳膜。
在上述陣列基板的制造方法中,所述等離子體由氧氣或氫氣制備得到。
在上述陣列基板的制造方法中,去除所述導(dǎo)電墊對(duì)應(yīng)的所述碳膜后,所述方法還包括:
利用干法蝕刻去除所述導(dǎo)電墊對(duì)應(yīng)的所述鈍化層。
在上述陣列基板的制造方法中,于所述鈍化層上形成整面的碳膜包括如下步驟:
以石墨為靶材,利用濺射沉積于所述鈍化層上形成整面的碳膜。
在上述陣列基板的制造方法中,所述碳膜的厚度大于100納米。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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