[發明專利]去除膜面大顆粒的裝置及隔膜涂布設備在審
| 申請號: | 202010680997.5 | 申請日: | 2020-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN111889320A | 公開(公告)日: | 2020-11-06 |
| 發明(設計)人: | 楊建;尹亮;鐘寶誠 | 申請(專利權)人: | 江蘇星源新材料科技有限公司 |
| 主分類號: | B05C9/12 | 分類號: | B05C9/12;B05C13/02;H01M2/14 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 呂露 |
| 地址: | 213100 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 去除 膜面大 顆粒 裝置 隔膜 布設 | ||
1.一種去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,包括:底輥機構、刮輥機構和驅動機構;
所述底輥機構用于牽引隔膜,所述驅動機構的輸出端與所述刮輥機構連接且能夠帶動所述刮輥機構靠近所述底輥機構,以使得所述刮輥機構的刮輥與所述底輥機構的底輥的間距小于大顆粒的粒徑。
2.根據權利要求1所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述去除膜面大顆粒的裝置包括控制器,所述控制器能夠在第一預設時間控制所述驅動機構工作,使得所述刮輥機構的刮輥按預設間距遠離所述底輥機構的底輥。
3.根據權利要求2所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,在所述刮輥機構的刮輥按預設間距遠離所述底輥機構的底輥之前,所述刮輥機構的刮輥與所述底輥機構的底輥間距為初始要求間距;
所述控制器能夠在第二預設時間控制所述刮輥機構的刮輥重新靠近所述底輥機構的底輥并保持所述刮輥與所述底輥的間距為所述初始要求間距。
4.根據權利要求1所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述去除膜面大顆粒的裝置還包括直線導軌機構,所述刮輥機構可滑動地設置于所述直線導軌機構。
5.根據權利要求1所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述驅動機構包括動力件、傳動件和位移感應件;
所述動力件通過所述傳動件與所述刮輥機構傳動連接,所述位移感應件用于檢測所述刮輥機構的位置并反饋信號給所述去除膜面大顆粒的裝置的控制器,所述控制器根據所述反饋信號發送控制信號至所述動力件,以控制所述動力件工作,使得所述刮輥機構的刮輥與所述底輥機構的底輥的間距小于大顆粒的粒徑。
6.根據權利要求5所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述傳動件為滾珠絲杠。
7.根據權利要求5所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述位移感應件為光柵尺。
8.根據權利要求1所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述去除膜面大顆粒的裝置還包括接料機構,所述接料機構的接料盤設置于所述刮輥機構的刮輥與所述底輥機構的底輥的下方。
9.根據權利要求1-5、8中任一項所述的去除膜面大顆粒的裝置,其特征在于,所述刮輥機構的刮輥為逗號刮輥。
10.一種隔膜涂布設備,其特征在于,包括涂布裝置、收卷裝置和權利要求1-9任一項所述的去除膜面大顆粒的裝置;
至少一個所述去除膜面大顆粒的裝置設置于所述涂布裝置的下游且處于所述收卷裝置的上游。
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