[發(fā)明專利]線跡檢查裝置、線跡檢查方法、以及計(jì)算機(jī)程序

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010655967.9
• 申請(qǐng)日: 2020-07-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112210898A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 山田和范;栗田直樹(shù)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: JUKI株式會(huì)社
• 主分類號(hào): D05B19/10
• 分類號(hào): D05B19/10;D05B19/08;D05B47/06
• 代理公司: 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 張晶;劉言

本發(fā)明提供線跡檢查裝置、線跡檢查方法、以及計(jì)算機(jī)程序。技術(shù)問(wèn)題：維持實(shí)時(shí)性，并且以低成本實(shí)施線跡的檢查。解決方案：線跡檢查裝置具備多核處理器，多核處理器具有由通用操作系統(tǒng)進(jìn)行任務(wù)管理的第一核及第二核。第一核執(zhí)行獲取處理，獲取處理獲取鉤掛于縫紉機(jī)針的上線的張力的檢測(cè)值及使縫紉機(jī)針往復(fù)移動(dòng)的電動(dòng)機(jī)的旋轉(zhuǎn)角度的檢測(cè)值。第二核執(zhí)行解析處理，解析處理基于在縫紉機(jī)針的一次往復(fù)移動(dòng)中獲取的張力的檢測(cè)值來(lái)檢測(cè)由縫紉機(jī)針在縫制對(duì)象物上形成的線跡的異常。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種線跡檢查裝置、線跡檢查方法、以及計(jì)算機(jī)程序。

背景技術(shù)

在縫制工廠中使用縫紉機(jī)來(lái)生產(chǎn)服裝。在專利文獻(xiàn)1中公開(kāi)了檢查由縫紉機(jī)形成的線跡的線跡檢查裝置的一例。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本專利公開(kāi)平11-090077號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題

在通過(guò)獲取縫紉機(jī)中所設(shè)置的傳感器的檢測(cè)值并對(duì)檢測(cè)值進(jìn)行解析從而實(shí)施線跡的檢查的情況下，在傳感器的檢測(cè)值的獲取及解析中要求實(shí)時(shí)性。因此，可考慮如下方法：在縫紉機(jī)中裝配通過(guò)面向嵌入用途的實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)(RTOS：Real Time OperatingSystem)工作的專用計(jì)算機(jī)，通過(guò)專用計(jì)算機(jī)來(lái)執(zhí)行傳感器的檢測(cè)值的獲取及解析。但是，如果在縫紉機(jī)中裝配通過(guò)實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)工作的專用計(jì)算機(jī)，則會(huì)阻礙縫紉機(jī)的低成本化。

本發(fā)明的方式的目的在于，維持實(shí)時(shí)性，并且以低成本實(shí)施線跡的檢查。

(二)技術(shù)方案

根據(jù)本發(fā)明的方式，提供一種線跡檢查裝置，其具備多核處理器，所述多核處理器具有由通用操作系統(tǒng)進(jìn)行任務(wù)管理的第一核及第二核，所述第一核執(zhí)行獲取處理，所述獲取處理獲取鉤掛于縫紉機(jī)針的上線的張力的檢測(cè)值及使所述縫紉機(jī)針往復(fù)移動(dòng)的電動(dòng)機(jī)的旋轉(zhuǎn)角度的檢測(cè)值，所述第二核執(zhí)行解析處理，所述解析處理基于在所述縫紉機(jī)針的一次往復(fù)移動(dòng)中獲取的所述張力的檢測(cè)值來(lái)檢測(cè)由所述縫紉機(jī)針在縫制對(duì)象物上形成的線跡的異常。

(三)有益效果

根據(jù)本發(fā)明的方式，能夠維持實(shí)時(shí)性，并且以低成本實(shí)施線跡的檢查。

附圖說(shuō)明

圖1是示意性地表示實(shí)施方式的縫紉機(jī)的立體圖。

圖2是表示實(shí)施方式的針棒及挑線桿的運(yùn)動(dòng)曲線的圖。

圖3是表示實(shí)施方式的線跡檢查系統(tǒng)的框圖。

圖4是表示實(shí)施方式的多核處理器的一部分及共享存儲(chǔ)器的框圖。

圖5是示意性地表示正常的線跡的圖。

圖6是示意性地表示異常的線跡的圖。

圖7是示意性地表示異常的線跡的圖。

圖8是表示實(shí)施方式的參照特征量計(jì)算處理的流程圖。

圖9是表示張力傳感器的檢測(cè)值的圖。

圖10是表示張力傳感器的檢測(cè)值的圖。

圖11是表示累積曲線的圖。

圖12是表示張力的頻譜的圖。

圖13是表示實(shí)施方式的學(xué)習(xí)處理的流程圖。

圖14是表示實(shí)施方式的框架處理的流程圖。

圖15是表示實(shí)施方式的獲取處理的流程圖。

圖16是表示實(shí)施方式的解析處理的流程圖。

附圖標(biāo)記說(shuō)明