[發(fā)明專利]絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu)及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010650268.5 | 申請日: | 2020-07-08 |
| 公開(公告)號: | CN113809165B | 公開(公告)日: | 2023-09-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳駿盛;方彥程;陳姿含 | 申請(專利權(quán))人: | 力晶積成電子制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/739 | 分類號: | H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 絕緣 雙極晶體管 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
1.一種絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
基底;以及
第一柵控PNPN二極管,位于所述基底上,其中所述第一柵控PNPN二極管包括:
第一柵極,位于所述基底上;
第一源極/漏極延伸區(qū)與第二源極/漏極延伸區(qū),位于所述第一柵極兩側(cè)的所述基底中;以及
第一區(qū)、第二區(qū)、第三區(qū)與第四區(qū),位于所述基底中,其中所述第一區(qū)與所述第三區(qū)為第一導電型,所述第二區(qū)、第四區(qū)、所述第一源極/漏極延伸區(qū)與所述第二源極/漏極延伸區(qū)為第二導電型,且在所述第一區(qū)與所述第二區(qū)之間、在所述第二區(qū)與所述第三區(qū)之間以及在所述第三區(qū)與所述第四區(qū)之間分別具有PN結(jié),其中所述第一區(qū)包括第一摻雜區(qū),所述第二區(qū)包括第一阱區(qū),所述第三區(qū)包括第二阱區(qū)與第二摻雜區(qū),所述第四區(qū)包括第三摻雜區(qū),所述第一摻雜區(qū)位于所述第一阱區(qū)中,所述第二摻雜區(qū)與所述第三摻雜區(qū)位于所述第二阱區(qū)中,且所述第二摻雜區(qū)與所述第三摻雜區(qū)短路連接,其中所述第二區(qū)還包括:第四摻雜區(qū),位于所述第一阱區(qū)中,其中所述第一阱區(qū)包覆所述第一摻雜區(qū)與所述第四摻雜區(qū)。
2.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第一柵控PNPN二極管還包括:
第一介電層,位于所述第一柵極與所述基底之間;以及
第一間隙壁與第二間隙壁,位于所述第一柵極的兩側(cè)壁上,其中所述第一源極/漏極延伸區(qū)與所述第二源極/漏極延伸區(qū)分別位于所述第一間隙壁與所述第二間隙壁下方。
3.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中在所述第二區(qū)與所述第三區(qū)之間的所述PN結(jié)位于所述第一柵極的正下方或位于所述第一柵極的一側(cè)。
4.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第四摻雜區(qū)還位于所述第二阱區(qū)中。
5.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),還包括:
隔離結(jié)構(gòu),位于所述第一摻雜區(qū)與所述第四摻雜區(qū)之間的所述基底中。
6.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第一柵控PNPN二極管還包括:
第二柵極,位于所述基底上,其中所述第一柵極與所述第二柵極分離設(shè)置在所述第二阱區(qū)上方;
第三源極/漏極延伸區(qū)與第四源極/漏極延伸區(qū),位于所述第二柵極兩側(cè)的所述第二阱區(qū)中,且所述第三源極/漏極延伸區(qū)與所述第四源極/漏極延伸區(qū)為第二導電型;以及
第五摻雜區(qū),位于所述第一柵極與所述第二柵極之間的所述第二阱區(qū)中,其中所述第五摻雜區(qū)為第二導電型。
7.如權(quán)利要求6所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第一柵控PNPN二極管還包括:
第二介電層,位于所述第二柵極與所述基底之間;以及
第三間隙壁與第四間隙壁,位于所述第二柵極的兩側(cè)壁上,其中所述第三源極/漏極延伸區(qū)與所述第四源極/漏極延伸區(qū)分別位于所述第三間隙壁與所述第四間隙壁下方。
8.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),還包括:
自對準金屬硅化物阻擋層,位于所述第一摻雜區(qū)與所述第一柵極之間的所述基底上。
9.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第一阱區(qū)的底面的高度等于或低于所述第二阱區(qū)的底面的高度。
10.如權(quán)利要求1所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第二區(qū)還包括:
第三阱區(qū),包覆所述第一阱區(qū)。
11.如權(quán)利要求10所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),其中所述第三阱區(qū)還包覆所述第二阱區(qū)。
12.如權(quán)利要求11所述的絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),還包括:
第二柵控PNPN二極管,位于所述基底上,其中所述第一柵控PNPN二極管與所述第二柵控PNPN二極管為鏡像對稱結(jié)構(gòu),且共用所述第一柵極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
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