[發(fā)明專利]一種FPGA多區(qū)域動(dòng)態(tài)參數(shù)時(shí)序驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010631700.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111832241A | 公開(公告)日: | 2020-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣中華;郭敬霞;王海力 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京微齊力(北京)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/347 | 分類號(hào): | G06F30/347;G06F30/3312;G06F30/396 |
| 代理公司: | 北京億騰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11309 | 代理人: | 陳霽 |
| 地址: | 100190 北京市海淀區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 fpga 區(qū)域 動(dòng)態(tài) 參數(shù) 時(shí)序 驅(qū)動(dòng) 設(shè)計(jì) 方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序設(shè)計(jì)方法,該方法包括:將現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的電路圖,劃為若干局部區(qū)域;測(cè)量各局部區(qū)域的時(shí)序性能,提取時(shí)序參數(shù);至少根據(jù)各局部區(qū)域的范圍及其時(shí)序參數(shù),建立現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序模型;基于芯片時(shí)序模型,利用時(shí)序引擎進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的布局、布線。該方法建立的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序模型更加精準(zhǔn),進(jìn)而減少芯片的設(shè)計(jì)時(shí)序與實(shí)際運(yùn)行的時(shí)序的誤差。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)芯片的設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種FPGA多區(qū)域動(dòng)態(tài)參數(shù)時(shí)序驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)方法。
背景技術(shù)
FPGA,現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(Field Programmable Gate Array)是由許多的邏輯單元構(gòu)成的邏輯器件,在制造后,可以根據(jù)所需的應(yīng)用程序或功能要求對(duì)FPGA重新編程。在當(dāng)前FPGA芯片設(shè)計(jì)中,F(xiàn)PGA芯片由時(shí)鐘樹供電,而時(shí)鐘樹是一個(gè)樹狀網(wǎng)絡(luò),存在著電壓降的問(wèn)題,所以在芯片的不同區(qū)域電壓有著微小的差異,這就導(dǎo)致芯片的時(shí)序模型與實(shí)際運(yùn)行狀態(tài)并不精確匹配。
因此,需要一種新的FPGA芯片時(shí)序驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列多區(qū)域動(dòng)態(tài)參數(shù)時(shí)序驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)方法,該方法通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片劃分區(qū)域,根據(jù)不同區(qū)域的測(cè)量時(shí)序性能,建立時(shí)序模型,使得該時(shí)序模型更加符合芯片實(shí)際運(yùn)行時(shí)的實(shí)際時(shí)序狀態(tài),進(jìn)而使基于該時(shí)序模型設(shè)計(jì)的PFGA芯片的時(shí)序更加精確。
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問(wèn)題采用的技術(shù)方案為,一種現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序設(shè)計(jì)方法,所述方法包括:
獲得現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片電路圖;
將現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片電路圖,劃分為若干局部區(qū)域;
測(cè)量各局部區(qū)域的時(shí)序性能,提取各局部區(qū)域的時(shí)序參數(shù)。
至少根據(jù)各局部區(qū)域的劃分范圍及其時(shí)序參數(shù),建立現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序模型。
基于所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序模型,利用時(shí)序驅(qū)動(dòng)引擎進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的布局、布線。
優(yōu)選地,所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片電路圖,包括硬件設(shè)計(jì)語(yǔ)言描述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片設(shè)計(jì)圖或原理圖,所述硬件設(shè)計(jì)語(yǔ)言至少包括Verilog語(yǔ)言、VHDL語(yǔ)言。
優(yōu)選地,所述時(shí)序參數(shù)包括所述局部區(qū)域中路徑的延遲時(shí)間。
優(yōu)選地,其中,所述測(cè)量各所述局部區(qū)域中的時(shí)序性能,提取時(shí)序參數(shù),包括,基于一種現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的原型,測(cè)量各所述局部區(qū)域中的時(shí)序性能,并提取時(shí)序參數(shù)。
優(yōu)選地,所述測(cè)量各所述局部區(qū)域中的時(shí)序性能,提取時(shí)序參數(shù),包括,基于模擬仿真計(jì)算,估計(jì)各所述局部區(qū)域中的時(shí)序性能,并提取時(shí)序參數(shù)。
優(yōu)選地,基于所述芯片時(shí)序模型,利用時(shí)序引擎進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的布局、布線,包括,根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列各局部區(qū)域的時(shí)序參數(shù),和用戶模塊的運(yùn)行速度需求,確定現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片用戶模塊的布局區(qū)域。
優(yōu)選地,基于所述芯片時(shí)序模型,利用時(shí)序引擎進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的布局、布線,包括,根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列各局部區(qū)域的時(shí)序參數(shù),和用戶模塊的功耗需求,確定現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片用戶模塊的布局區(qū)域。
優(yōu)選地,所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片時(shí)序設(shè)計(jì)方法基于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具。
優(yōu)選地,所述電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具包括,F(xiàn)uxi電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具。
本發(fā)明實(shí)施例提供的一種現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列多區(qū)域動(dòng)態(tài)參數(shù)時(shí)序驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)方法,具有以下的優(yōu)點(diǎn):
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