[發明專利]一種對粉末或液體樣品的正電子湮沒譜測試方法有效
| 申請號： | 202010626423.X | 申請日： | 2020-07-01 |
| 公開（公告）號： | CN111650228B | 公開（公告）日： | 2022-07-08 |
| 發明（設計）人： | 尹崇山;何春清;劉其城 | 申請（專利權）人： | 長沙理工大學 |
| 主分類號： | G01N23/22 | 分類號： | G01N23/22 |
| 代理公司： | 成都方圓聿聯專利代理事務所(普通合伙) 51241 | 代理人： | 宋紅賓 |
| 地址： | 410114 湖南省長*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 粉末 液體 樣品 正電子 湮沒 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種對粉末或液體樣品的正電子湮沒譜測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
（1）使用Kapton薄膜將正電子放射物質包裹，形成一個密封的、可與固體樣品接觸的正電子放射源；
（2）用正電子湮沒特征已知的膜將正電子放射源包裹住，將正電子放射源密封起來；把被膜密封好的正電子放射源放置在合適大小的自封袋內，在自封袋內填入足量的粉末或液體被測樣品；所述的正電子湮沒特征已知的膜，為超薄的Mylar膜，厚度≤10 μm；
（3）布置好正電子放射源以及樣品后，正電子源以一定的速率放出正電子，正電子注入被測材料并在材料中湮沒；
（4）使用閃爍體探頭探測正電子的生成光信號以及湮沒光信號，然后依次通過恒比定時甄別器、時幅轉換器、多道分析器后信息被計算機錄入，并最終生成一個包含大量湮沒數據的正電子湮沒壽命譜。
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