[發(fā)明專利]校驗(yàn)算法的測(cè)試方法、芯片、存儲(chǔ)介質(zhì)和家用電器

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010621761.4
• 申請(qǐng)日: 2020-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN111953354A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉凱
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海美仁半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號(hào): H03M13/09
• 分類號(hào): H03M13/09
• 代理公司: 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 瞿璨

1.一種校驗(yàn)算法的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取校驗(yàn)參數(shù)和輸入數(shù)據(jù)；

輸入所述輸入數(shù)據(jù)和所述校驗(yàn)參數(shù)至校驗(yàn)單元，得到校驗(yàn)結(jié)果；

檢測(cè)并確認(rèn)所述校驗(yàn)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果一致，輸出測(cè)試通過；其中，所述標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果基于所述輸入數(shù)據(jù)和所述校驗(yàn)參數(shù)產(chǎn)生。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述獲取校驗(yàn)參數(shù)和輸入數(shù)據(jù)，包括：

獲取測(cè)試任務(wù)；

獲取與所述測(cè)試任務(wù)對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)參數(shù)，基于所述測(cè)試任務(wù)生成對(duì)應(yīng)的輸入數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，

所述獲取測(cè)試任務(wù)以及對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)參數(shù)，包括：

構(gòu)建參數(shù)結(jié)構(gòu)體和校驗(yàn)類；其中，所述參數(shù)結(jié)構(gòu)體包含所述校驗(yàn)算法所需要的校驗(yàn)參數(shù)，所述校驗(yàn)類用于定義所述測(cè)試任務(wù)；

基于所述測(cè)試任務(wù)確定檢驗(yàn)?zāi)Ｊ剑?/p>

將所述參數(shù)結(jié)構(gòu)體中與所述校驗(yàn)?zāi)Ｊ较鄬?duì)應(yīng)的校驗(yàn)參數(shù)，例化至所述校驗(yàn)類中。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，

所述構(gòu)建參數(shù)結(jié)構(gòu)體和校驗(yàn)類，包括：

基于UVM框架構(gòu)建所述參數(shù)結(jié)構(gòu)體和所述校驗(yàn)類。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，

所述方法還包括：

基于所述UVM框架構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)函數(shù)；

利用所述標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)函數(shù)對(duì)所述輸入數(shù)據(jù)和所述檢驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)運(yùn)算，得到所述標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述檢測(cè)并確認(rèn)所述校驗(yàn)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果一致之前，還包括：

預(yù)存所述標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述輸入所述輸入數(shù)據(jù)和所述校驗(yàn)參數(shù)至校驗(yàn)單元，得到校驗(yàn)結(jié)果，包括：

寫入所述輸入數(shù)據(jù)至所述所述校驗(yàn)單元的數(shù)據(jù)寄存器，寫入所述校驗(yàn)參數(shù)至所述校驗(yàn)單元的參數(shù)寄存器，寫入所述校驗(yàn)單元輸出的校驗(yàn)結(jié)果至所述校驗(yàn)單元的結(jié)果寄存器。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，

所述校驗(yàn)算法為循環(huán)冗余校驗(yàn)算法。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，

所述基于所述測(cè)試任務(wù)生成對(duì)應(yīng)的輸入數(shù)據(jù)，包括：

獲取初始輸入數(shù)據(jù)；

檢測(cè)并確認(rèn)所述初始輸入數(shù)據(jù)為ASC II碼，將預(yù)設(shè)的ASC II標(biāo)準(zhǔn)碼作為所述校驗(yàn)單元的輸入數(shù)據(jù)；或

檢測(cè)并確認(rèn)所述初始輸入數(shù)據(jù)為二進(jìn)制數(shù)，生成隨機(jī)數(shù)作為所述校驗(yàn)單元的輸入數(shù)據(jù)。

10.一種校驗(yàn)算法的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

運(yùn)行測(cè)試用例，輸入校驗(yàn)參數(shù)和輸入數(shù)據(jù)至所述測(cè)試用例，得到校驗(yàn)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果；

檢測(cè)并確認(rèn)所述校驗(yàn)結(jié)果與所述標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果一致，輸出測(cè)試通過。

11.一種芯片，其特征在于，所述芯片被配置為執(zhí)行如權(quán)利要求1-10任一項(xiàng)所述方法的步驟。

12.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，存儲(chǔ)有程序數(shù)據(jù)，所述程序數(shù)據(jù)能夠被處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-10任一項(xiàng)所述方法的步驟。

13.一種家用電器，其特征在于，所述家用電器包括如權(quán)利要求11所述的芯片，或所述家用電器包括如權(quán)利要求12所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。