[發明專利]一種老化測試機臺、改造方法及老化測試方法

在審

• 申請號: 202010616705.1
• 申請日: 2020-07-01
• 公開（公告）號: CN111650497A
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發明（設計）人: 朱勇;陳參參;李曉龍
• 申請（專利權）人: 上海季豐電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海海鈞知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31330
• 代理人: 姜波

本發明公開了一種老化測試機臺、改造方法及老化測試方法，包括機座，所述機座設置有PCB連接板和MCC驅動板，所述PCB連接板和MCC驅動板連接，所述PCB連接板設置有第一插槽，所述機座頂端沿機座相對兩個邊沿分別設置有側板，兩個所述側板設置有開口相對的第一滑軌，所述第一插槽朝向兩個所述側板之間的區域，所述第一滑軌的設置高度和第一插槽的設置高度相同；所述機座上設置有PCB反接板，所述PCB反接板設置有第二插槽和反接板金手指，所述反接板金手指與第一插槽連接，所述第一插槽和第二插槽平行，所述第一插槽和第二插槽中端口的排列順序相反。

技術領域

本發明涉及電子元器件測試領域，更具體的說，涉及一種老化測試機臺、改造方法及測試方法。

背景技術

在電路板出廠前，一般都會對電路板做老化測試，該過程包括對電路板老化和對老化后的電路板的測試，經過老化處理后的電路板稱為老化板，老化板的測試是在老化測試機臺上進行的。

MCC(Micro Control Compary)公司所生產型號為MCC LC2的老化測試機臺包括機座、PCB連接板，老化板測試時，先將老化板上的金手指以規定的方向插接在PCB連接板的插槽上，使老化板處于工作狀態，以此時老化板遠離老化板測試機臺的一側可以測試的平面為正面，朝向老化板測試機臺的一側等待測試的平面為背面，現有的老化測試機臺由于老化板和PCB連接板連接方向有要求，導致現有的老化測試機臺只能測量老化板正面的信號。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種老化測試機臺、兩種老化測試機臺的改造方法以及一種老化測試機臺進行老化板老化測試的老化測試方法。

本發明第一個方面提供了一種老化測試機臺，包括機座，所述機座設置有PCB連接板和MCC驅動板，所述PCB連接板和MCC驅動板連接，所述PCB連接板設置有第一插槽，所述機座頂端沿機座相對兩個邊沿分別設置有側板，兩個所述側板設置有開口相對的第一滑軌，所述第一插槽朝向兩個所述側板之間的區域，所述第一滑軌的設置高度和第一插槽的設置高度相同；

所述機座上設置有PCB反接板，所述PCB反接板設置有第二插槽和反接板金手指，所述反接板金手指與第一插槽連接，所述第一插槽和第二插槽平行，所述第一插槽和第二插槽中端口的排列順序相反。

本發明第二個方面提供了一種老化測試機臺的改造方法，改造前老化測試機臺包括機座，所述機座設置有PCB連接板和MCC驅動板，所述PCB連接板和MCC驅動板連接，所述PCB連接板設置有第一插槽，所述改造方法包括：

在所述機座頂端沿機座相對兩個邊沿分別設置側板，兩個所述側板設置有開口相對的第一滑軌，所述第一插槽朝向兩個所述側板之間的區域，所述第一滑軌的設置高度和第一插槽的設置高度相同；

在所述機座上設置PCB反接板，所述PCB反接板設置有第二插槽和反接板金手指，所述反接板金手指與第一插槽連接，所述第一插槽和第二插槽平行，所述第一插槽和第二插槽中端口的排列順序相反。

本發明第三個方面提供了一種老化測試機臺的改造方法，改造前老化測試機臺包括機座，所述機座設置有PCB連接板和MCC驅動板，所述PCB連接板和MCC驅動板連接，所述PCB連接板設置有第一插槽，在所述機座頂端沿機座相對兩個邊沿分別設置側板，兩個所述側板設置有開口相對的第一滑軌，所述第一插槽朝向兩個所述側板之間的區域，所述第一滑軌的設置高度和第一插槽的設置高度相同，所述改造方法包括：

在所述機座上設置PCB反接板，所述PCB反接板設置有第二插槽和反接板金手指，所述反接板金手指與第一插槽連接，所述第一插槽和第二插槽平行，所述第一插槽和第二插槽中端口的排列順序相反。