[發(fā)明專(zhuān)利]芯片自檢測(cè)方法、裝置、芯片、顯示系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010616662.7
• 申請(qǐng)日: 2020-07-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111782448A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊盼
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 長(zhǎng)沙景嘉微電子股份有限公司;長(zhǎng)沙景美集成電路設(shè)計(jì)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京新知遠(yuǎn)方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11397
• 代理人: 馬軍芳;張艷

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種芯片自檢測(cè)方法、裝置、芯片、顯示系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，芯片自檢測(cè)方法包括：獲取芯片的上電檢測(cè)參數(shù)；加載硬件初始化程序；當(dāng)所述上電檢測(cè)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運(yùn)行正常時(shí)，對(duì)處于初始化狀態(tài)的硬件進(jìn)行檢測(cè)，并根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形；根據(jù)所述硬件的檢測(cè)結(jié)果以及繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測(cè)結(jié)果。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的芯片自檢測(cè)方法、裝置、芯片、顯示系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)能夠解決傳統(tǒng)方案中對(duì)芯片檢測(cè)的效率較低的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及芯片檢測(cè)技術(shù)，尤其涉及一種芯片自檢測(cè)方法、裝置、芯片、顯示系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

圖形處理器(Graphics Processing Unit，簡(jiǎn)稱(chēng)GPU)是一種專(zhuān)門(mén)用于對(duì)圖像或圖形進(jìn)行處理的處理器，應(yīng)用在顯示系統(tǒng)中，能夠減輕中央處理器(central processingunit，簡(jiǎn)稱(chēng)CPU)在圖像或圖形處理方面的壓力，提高顯示系統(tǒng)的整體處理效率。

顯示系統(tǒng)具備上電自檢測(cè)的功能，包括對(duì)處理器、系統(tǒng)主板、內(nèi)存、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、硬盤(pán)等器件進(jìn)行檢測(cè)。在自檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)的故障通常按兩種情況進(jìn)行處理，對(duì)于一般的故障給出提示警報(bào)，對(duì)于重要的故障則直接停機(jī)。但是，顯示系統(tǒng)的自檢測(cè)只能定位到發(fā)生故障的器件，而不能定位到器件內(nèi)部存在的問(wèn)題，需要對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)。傳統(tǒng)方案中，對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)需要結(jié)合外部設(shè)備，而且采用的是離線檢測(cè)方式，例如：采用一個(gè)外部主機(jī)和信號(hào)仿真單元，通過(guò)信號(hào)仿真單元向待檢測(cè)的芯片發(fā)送仿真測(cè)試信號(hào)，外部主機(jī)采集芯片的運(yùn)行狀態(tài)結(jié)果并確定芯片的故障，傳統(tǒng)的方案具有檢測(cè)效率較低的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供了一種芯片自檢測(cè)方法、裝置、芯片、顯示系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，用于解決傳統(tǒng)方案中對(duì)芯片檢測(cè)的效率較低的問(wèn)題。

本申請(qǐng)第一方面實(shí)施例提供一種芯片自檢測(cè)方法，包括：

獲取芯片的上電檢測(cè)參數(shù)；

加載硬件初始化程序；

當(dāng)所述上電檢測(cè)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運(yùn)行正常時(shí)，對(duì)處于初始化狀態(tài)的硬件進(jìn)行檢測(cè)，并根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形；

根據(jù)所述硬件的檢測(cè)結(jié)果以及繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測(cè)結(jié)果。

本申請(qǐng)第二方面實(shí)施例提供一種芯片自檢測(cè)裝置，包括：

上電檢測(cè)參數(shù)獲取模塊，用于獲取芯片的上電檢測(cè)參數(shù)；

硬件初始化程序加載模塊，用于加載硬件初始化程序；

硬件檢測(cè)模塊，用于當(dāng)所述上電檢測(cè)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運(yùn)行正常時(shí)，對(duì)處于初始化狀態(tài)的硬件進(jìn)行檢測(cè)；

繪制圖形模塊，用于當(dāng)所述上電檢測(cè)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運(yùn)行正常時(shí)，根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形；

自檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生模塊，用于根據(jù)所述硬件的檢測(cè)結(jié)果以及繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測(cè)結(jié)果。

本申請(qǐng)第三方面實(shí)施例提供一種芯片，包括：如上所述的芯片自檢測(cè)裝置。

本申請(qǐng)第四方面實(shí)施例提供一種顯示系統(tǒng)，包括：如上所述的芯片和存儲(chǔ)器。

本申請(qǐng)第五方面實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上所述的芯片自檢測(cè)方法。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案，通過(guò)獲取芯片的上電檢測(cè)參數(shù)，并加載硬件初始化程序，當(dāng)上電檢測(cè)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運(yùn)行正常時(shí)，對(duì)處于初始化狀態(tài)的硬件進(jìn)行檢測(cè)，并根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形；然后根據(jù)硬件的檢測(cè)結(jié)果集繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測(cè)結(jié)果，上述方案由芯片自己執(zhí)行，不需要配合外部檢測(cè)設(shè)備，一方面提高了檢測(cè)效率，另一方面，檢測(cè)過(guò)程為在線檢測(cè)，且實(shí)際運(yùn)行環(huán)境等效于真實(shí)的環(huán)境，準(zhǔn)確度較高。