[發(fā)明專利]芯片自檢測方法、裝置、芯片、顯示系統(tǒng)及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010616662.7
• 申請日: 2020-07-01
• 公開（公告）號: CN111782448A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊盼
• 申請（專利權(quán)）人: 長沙景嘉微電子股份有限公司;長沙景美集成電路設(shè)計有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京新知遠方知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11397
• 代理人: 馬軍芳;張艷

1.一種芯片自檢測方法，其特征在于，包括：

獲取芯片的上電檢測參數(shù)；

加載硬件初始化程序；

當所述上電檢測參數(shù)滿足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運行正常時，對處于初始化狀態(tài)的硬件進行檢測，并根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形；

根據(jù)所述硬件的檢測結(jié)果以及繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述上電檢測參數(shù)包括：芯片的上電電壓和芯片的內(nèi)部溫度；

獲取芯片的上電檢測參數(shù)包括：

獲取芯片各電壓域的上電電壓；

獲取芯片各區(qū)域的內(nèi)部溫度。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)參數(shù)條件為：所述上電電壓在預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi)，且所述內(nèi)部溫度在預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，加載硬件初始化程序，包括：

加載物理端口層初始化程序；

加載內(nèi)存初始化程序。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對處于初始化狀態(tài)的硬件進行檢測，包括：

對處于初始化狀態(tài)的硬件電路進行檢測；

對內(nèi)存讀寫操作進行檢測。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形之后，還包括：

將繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果進行比較；

當繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果相同時，產(chǎn)生正常繪圖結(jié)果；

當繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果不同時，產(chǎn)生異常繪圖結(jié)果。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，將繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果進行比較，包括：

將繪制結(jié)果的局部像素點與預(yù)設(shè)結(jié)果的局部像素點進行比較；

將繪制結(jié)果中各行的循環(huán)冗余校驗值與預(yù)設(shè)結(jié)果的循環(huán)冗余校驗值進行比較；若繪制結(jié)果的局部像素點與預(yù)設(shè)結(jié)果的局部像素點之間具有差異的像素點數(shù)目在第一預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，且繪制結(jié)果中各行的循環(huán)冗余校驗值與預(yù)設(shè)結(jié)果的循環(huán)冗余校驗值相同，則繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果相同。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，將繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果進行比較，包括：

將繪制結(jié)果的全局像素點與預(yù)設(shè)結(jié)果的全局像素點進行比較；若繪制結(jié)果的全局像素點與預(yù)設(shè)結(jié)果的全局像素點之間具有差異的像素點數(shù)目在第二預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，則繪制結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果相同。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述硬件的檢測結(jié)果以及繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測結(jié)果，包括：

當硬件的檢測結(jié)果為正常檢測結(jié)果、且繪圖結(jié)果為正常繪圖結(jié)果時，產(chǎn)生芯片正常自檢測結(jié)果。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：將所述芯片自檢測結(jié)果寫入狀態(tài)寄存器。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在獲取芯片的上電檢測參數(shù)之前，還包括：

在芯片上電，且時鐘穩(wěn)定后，執(zhí)行參數(shù)初始化操作。

12.一種芯片自檢測裝置，其特征在于，包括：

上電檢測參數(shù)獲取模塊，用于獲取芯片的上電檢測參數(shù)；

硬件初始化程序加載模塊，用于加載硬件初始化程序；

硬件檢測模塊，用于當所述上電檢測參數(shù)滿足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運行正常時，對處于初始化狀態(tài)的硬件進行檢測；

繪制圖形模塊，用于當所述上電檢測參數(shù)滿足預(yù)設(shè)參數(shù)條件、且硬件初始化程序運行正常時，根據(jù)預(yù)設(shè)繪圖命令繪制圖形；

自檢測結(jié)果產(chǎn)生模塊，用于根據(jù)所述硬件的檢測結(jié)果以及繪圖結(jié)果產(chǎn)生芯片自檢測結(jié)果。