[發明專利]虛檢過濾方法及裝置、存儲介質、接收機

在審

• 申請號: 202010614385.6
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111800227A
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發明（設計）人: 王琤;張凱;楊殷
• 申請（專利權）人: 銳迪科微電子（上海）有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00;H04L1/20
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 朱薇蕾;張振軍

1.一種虛檢過濾方法，其特征在于，包括：

對待處理數據進行解碼處理并校驗；

若校驗通過，則對解碼得到的解碼后數據進行編碼處理，以得到編碼后數據；

逐比特比較所述編碼后數據與所述待處理數據，并統計錯誤比特數量；

根據所述錯誤比特數量確定所述待處理數據的解碼校驗結果是否為虛檢。

2.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述對解碼得到的解碼后數據進行編碼處理時所采用的編碼處理方式選自：添加校驗碼、信道編碼以及速率匹配。

3.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述對解碼得到的解碼后數據進行編碼處理時所采用的編碼處理方式與所述待處理數據的發送端所采用的編碼處理方式相同。

4.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述對解碼得到的解碼后數據進行編碼處理時所采用的編碼處理方式根據所處系統和/或承載所述待處理數據的信道確定。

5.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述待處理數據是存儲于軟緩存器中的軟比特。

6.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，逐比特比較所述編碼后數據與所述待處理數據，并統計錯誤比特數量包括：

逐個比特地對所述編碼后數據與所述待處理數據中的相同位置的比特進行比較，以判斷各比特位是否存在比特錯誤；

統計存在比特錯誤的比特位的數量，以得到所述錯誤比特數量。

7.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述根據所述錯誤比特數量確定對所述待處理數據的解碼校驗結果是否為虛檢包括：

若所述錯誤比特數量大于預設閾值，則確定為虛檢；

若所述錯誤比特數量小于預設閾值，則確定通過虛檢過濾。

8.根據權利要求7所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述預設閾值根據以下一項或多項確定：信噪比、負載大小、DCI格式以及接收機所處狀態。

9.根據權利要求1所述的虛檢過濾方法，其特征在于，所述解碼后數據包括校驗部分和內容部分，所述對解碼得到的解碼后數據進行編碼處理包括：對通過校驗的所述內容部分進行編碼處理。

10.一種虛檢過濾裝置，其特征在于，包括：

解碼校驗模塊，用于對待處理數據進行解碼處理并校驗；

編碼處理模塊，若校驗通過，則對解碼得到的解碼后數據進行編碼處理，以得到編碼后數據；

比較統計模塊，用于逐比特比較所述編碼后數據與所述待處理數據，并統計錯誤比特數量；

確定模塊，用于根據所述錯誤比特數量確定所述待處理數據的解碼校驗結果是否為虛檢。

11.一種存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器運行時執行權利要求1至9任一項所述方法的步驟。

12.一種接收機，包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有能夠在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器運行所述計算機程序時執行權利要求1至9任一項所述方法的步驟。