[發(fā)明專利]SSD失效分析方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010613304.0
• 申請(qǐng)日: 2020-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN111767182A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李建;郭芳芳;賈宗銘;華榮;楊學(xué)森
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 深圳市精英專利事務(wù)所 44242
• 代理人: 林燕云

本發(fā)明涉及SSD失效分析方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時(shí)，獲取SSD全盤信息；根據(jù)SSD全盤信息構(gòu)建失效場(chǎng)景，并對(duì)失效場(chǎng)景進(jìn)行分析，以得到分析結(jié)果；發(fā)送所述失效結(jié)果至終端，以在終端顯示所述失效結(jié)果。本發(fā)明通過在SSD出現(xiàn)失效時(shí)，導(dǎo)出SSD全盤信息，并根據(jù)SSD全盤信息重建失效場(chǎng)景并在本地進(jìn)行分析，以此形成分析結(jié)果，且導(dǎo)出SSD全盤信息可以無(wú)限次重建失效場(chǎng)景，能永久保存失效場(chǎng)景，也極大便利了失效分析及問題解決后的驗(yàn)證，實(shí)現(xiàn)多種場(chǎng)景的失效分析，提升分析的成功率和準(zhǔn)確率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及固體存儲(chǔ)設(shè)備，更具體地說(shuō)是指SSD失效分析方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

SSD(固態(tài)驅(qū)動(dòng)器，Solid State Disk)俗稱固態(tài)硬盤，固態(tài)硬盤是用固態(tài)電子存儲(chǔ)芯片陣列而制成的硬盤。SSD在工作的過程中存在失效的情況發(fā)生，目前對(duì)于SSD的失效分析是通過FA工具獲取SSD的系統(tǒng)日志進(jìn)行分析，但系統(tǒng)日志記錄的信息有限，有時(shí)并不能給分析指明方向，無(wú)法進(jìn)行多種場(chǎng)景的分析，從而導(dǎo)致分析的成功率和準(zhǔn)確率較低。

因此，有必要設(shè)計(jì)一種新的方法，實(shí)現(xiàn)多種場(chǎng)景的失效分析，提升分析的成功率和準(zhǔn)確率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供SSD失效分析方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：SSD失效分析方法，包括：

當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時(shí)，獲取SSD全盤信息；

根據(jù)SSD全盤信息構(gòu)建失效場(chǎng)景，并對(duì)失效場(chǎng)景進(jìn)行分析，以得到分析結(jié)果；

發(fā)送所述失效結(jié)果至終端，以在終端顯示所述失效結(jié)果。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時(shí)，獲取SSD全盤信息，包括：

當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時(shí)，使用FA工具發(fā)送全盤信息導(dǎo)出命令至SSD，以使得SSD按照物理塊順序讀取對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)；

將SSD讀取的數(shù)據(jù)打包為指定格式的文件，以得到SSD全盤信息。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述SSD全盤信息包括系統(tǒng)數(shù)據(jù)塊的全部信息、用戶數(shù)據(jù)塊中的帶外數(shù)據(jù)以及所有塊內(nèi)各頁(yè)的狀態(tài)。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述根據(jù)SSD全盤信息構(gòu)建失效場(chǎng)景，并對(duì)失效場(chǎng)景進(jìn)行分析，以得到分析結(jié)果，包括：

模擬SSD中固件行為；

根據(jù)所述SSD全盤信息恢復(fù)所有物理塊的狀態(tài)、物理塊內(nèi)的數(shù)據(jù)以及用戶數(shù)據(jù)塊中的帶外數(shù)據(jù)，以得到失效場(chǎng)景；

根據(jù)所述失效場(chǎng)景結(jié)合系統(tǒng)日志進(jìn)行本地失效分析，以得到分析結(jié)果。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述分析結(jié)果包括映射表狀態(tài)是否正常、塊狀態(tài)是否正常。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述分析結(jié)果還包括在閃存轉(zhuǎn)換層增加用于調(diào)試的信息且從串口獲取更多運(yùn)行狀態(tài)信息時(shí)，運(yùn)行狀態(tài)何時(shí)出現(xiàn)異常。

本發(fā)明還提供了SSD失效分析裝置，包括：

獲取單元，用于當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時(shí)，獲取SSD全盤信息；

分析單元，用于根據(jù)SSD全盤信息構(gòu)建失效場(chǎng)景，并對(duì)失效場(chǎng)景進(jìn)行分析，以得到分析結(jié)果；

發(fā)送單元，用于發(fā)送所述失效結(jié)果至終端，以在終端顯示所述失效結(jié)果。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述獲取單元包括：

命令發(fā)送子單元，用于當(dāng)SSD出現(xiàn)失效時(shí)，使用FA工具發(fā)送全盤信息導(dǎo)出命令至SSD，以使得SSD按照物理塊順序讀取對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)；