[發(fā)明專利]適用于太陽能電池的硅片及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010603145.6 | 申請日: | 2020-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN111697089A | 公開(公告)日: | 2020-09-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 丁建明;崔俊虎;袁地春;崔鐘亨 | 申請(專利權(quán))人: | 韓華新能源(啟東)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0236 | 分類號: | H01L31/0236;H01L31/05;H01L31/18 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103 | 代理人: | 俞春雷 |
| 地址: | 226200 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 適用于 太陽能電池 硅片 及其 制備 方法 | ||
1.一種適用于太陽能電池的硅片,其特征在于,所述硅片包括本體以及位于所述本體相對兩面的正面和背面,所述硅片的正面包括用于接收光線的接收區(qū)以及用于印刷柵線的柵線區(qū),所述接收區(qū)內(nèi)設(shè)置有凹坑,所述凹坑用于降低所述硅片的反射率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅片,其特征在于,所述凹坑規(guī)則地分布在所述接收區(qū)內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的硅片,其特征在于,所述凹坑的直徑為10~100μm,所述凹坑的深度為1~20μm,同一個接收區(qū)內(nèi)相鄰所述凹坑之間的距離為0~10μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的硅片,其特征在于,所述凹坑的直徑為20~40μm,所述凹坑的深度為5~15μm,同一個接收區(qū)內(nèi)相鄰的凹坑之間緊密連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅片,其特征在于,所述凹坑為采用激光處理形成。
6.一種如權(quán)利要求1-5任意一項所述的適用于太陽能電池的硅片的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:對所述硅片正面的接收區(qū)進(jìn)行激光處理,所述激光處理用于在所述硅片正面的接收區(qū)內(nèi)形成所述凹坑。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法還包括對激光處理后的硅片的正面進(jìn)行刻蝕,所述刻蝕用于去除激光處理后硅片表面產(chǎn)生的熔融硅。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法還包括在刻蝕后的酸液制絨步驟,所述酸液制絨為采用混合酸制絨液對刻蝕后的硅片進(jìn)行正面和背面制絨。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法還包括在所述酸液制絨之后的擴(kuò)散步驟,所述擴(kuò)散步驟用于在所述硅片上形成PN結(jié)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任意一項所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法還包括金屬化步驟,所述金屬化步驟用于在所述柵線區(qū)內(nèi)形成柵線。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





