[發明專利]一種液晶顯示麻點失效的檢測方法

有效

• 申請號: 202010601510.X
• 申請日: 2020-06-28
• 公開（公告）號: CN111650766B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發明（設計）人: 項永金;王少輝;李帥;萬家劉;戴銀燕;陳明軒
• 申請（專利權）人: 格力電器（合肥）有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;霍玉娟

本發明提供一種液晶顯示麻點失效的檢測方法，其包括以下步驟：步驟一：將外觀檢驗合格的樣品進行酸性鹽霧試驗；步驟二：將經過酸性鹽霧試驗的外觀檢驗合格的樣品進行高溫高濕環境試驗；步驟三：將經過高溫高濕環境試驗的外觀檢驗合格的樣品進行高溫高濕環境及密閉的加壓環境組合試驗。本發明提供本發明能夠快速篩選剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隱蔽性質量缺陷的篩選不良檢出率，降低產線封存返包及售后故障率。

技術領域

本發明涉及液晶領域，特別涉及一種液晶顯示麻點失效的檢測方法。

背景技術

液晶是一種高分子材料，因為其特殊的物理、化學、光學特性，20世紀中葉開始被廣泛應用在輕薄型的顯示技術上，利用液晶的基本性質實現顯示。自然光經過一偏振片后“過濾”為線性偏振光，由于液晶分子在盒子中的扭曲螺距遠比可見光波長大得多，所以當沿取向膜表面的液晶分子排列方向一致或正交的線性偏振光入射后，其偏光方向在經過整個液晶層后會扭曲90°由另一側射出，正交偏振片起到透光的作用；如果在液晶盒上施加一定值的電壓，液晶長軸開始沿電場方向傾斜，當電壓達到約2倍閾值電壓后，除電極表面的液晶分子外，所有液晶盒內兩電極之間的液晶分子都變成沿電場方向的再排列，這時90°旋光的功能消失，在正交片振片間失去了旋光作用，使器件不能透光。如果使用平行偏振片則相反。正是這樣利用給液晶盒通電或斷電的辦法使光改變其透－遮住狀態，從而實現顯示。上下偏振片為正交或平行方向時顯示表現為常白或常黑模式。

目前，液晶制造工藝不良在生產過程出現典型失效模式有以下幾種：ITO線路蝕刻不良短路、顯示陰影、電極污染問題、合模錯位、原材料缺陷。經常出現液晶在廠家測試時正常且相關實驗結果正常，但是液晶在消費者使用一定時間后出現顯示不良。由于對液晶的制造缺陷早期失效問題沒有有效的篩選方法，檢驗未考慮實際高溫高濕環境、酸性環境等外界環境因素對液晶影響，因為液晶質量缺陷導致實際應用失效多達100多單，此問題嚴重產品質量。

液晶在白色家電領域、顯示領域應用非常廣泛，但是液晶在實際應用中出現麻點(反光片鋁層出現鋁箔腐蝕產生微小空洞即液晶顯示麻點問題)會影響液晶顯示效果，直接影響觀看效果。但是針對液晶麻點問題，行業一直沒有快速有效篩選測試方法。經解剖觀察黑點形貌、電鏡元素掃描、實驗復現驗證，分析黑點形成原因為液晶偏光片PVA膜中吸附的碘在高溫環境下發生升華穿透TAC膜后與反射膜中的鋁層在水汽條件下發生氧化還原反應，鋁層被腐蝕呈現黑點現象，即為“麻點”。

具體如圖1所示，其為液晶早期麻點失效的不良品的示意圖，液晶反光片結構層由下至上依次為：離型膜1、第一PSA膠(壓敏膠)2、第一TAC(三醋酸纖維薄膜)3、PVA(Patterned Vertical Alignment，圖像垂直調整)膜4、TAC 5、PSA膠6及反射膜7，偏光片中起偏振作用的核心膜材是PVA膜4經過染色后吸附具有二項吸收功能的碘分子，通過拉伸使碘分子在PVA膜有序排列，形成具有均勻二向吸收性能的偏振膜，其透過軸與拉伸方向垂直。是偏光片的核心部分，決定偏光片的偏光性能、透過率、色調等關鍵光學指標。

碘系偏光膜缺陷高溫高濕情況下碘分子的性能易受到破壞，耐候性差，如果液晶偏光片制造存在缺陷，在高溫高濕環境因為水汽滲入可能會出現碘分子遷移，與鋁發生化學反應生成碘化鋁，從而導致鋁箔腐蝕產生微小空洞，即麻點8，麻點8通常出現在反射膜7中。

為了能夠快速篩選剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隱蔽性質量缺陷的篩選不良檢出率，降低產線封存返包及售后故障率，本發明提供一種液晶顯示麻點失效的檢測方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種液晶顯示麻點失效的檢測方法，從而能夠快速篩選剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隱蔽性質量缺陷的篩選不良檢出率，降低產線封存返包及售后故障率。

為達上述目的，本發明提供一種液晶顯示麻點失效的檢測方法，其包括以下步驟：

步驟一：將外觀檢驗合格的樣品進行酸性鹽霧試驗；