[發(fā)明專利]用于檢測轉(zhuǎn)動設(shè)備的缺陷的裝置

在審

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• 申請日: 2020-06-28
• 公開（公告）號: CN112240829A
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 佩埃里克·拉爾森
• 申請（專利權(quán)）人: 斯凱孚公司
• 主分類號: G01M13/04
• 分類號: G01M13/04;G01M13/02;G01M13/00
• 代理公司: 北京智沃律師事務(wù)所 11620
• 代理人: 吳志宏

1.一種用于檢測轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)的缺陷的裝置(1)，所述轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)包含一個或者一個以上的轉(zhuǎn)動部件(4、6)，所述裝置(1)包含：

測量單元(8)，用于測量規(guī)定時間段內(nèi)轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)的參數(shù)(P)；

計算單元(10)，用于計算規(guī)定時間段內(nèi)參數(shù)(P)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，并根據(jù)該規(guī)定時間段內(nèi)的平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的匯總結(jié)果來計算閾值；以及

檢測單元(12)，通過比較參數(shù)(P)的當(dāng)前值與計算出來的閾值來檢測缺陷；

其特征在于：

所述計算單元(10)被設(shè)置為采用穩(wěn)定度系數(shù)對算出的閾值進行調(diào)整，所述穩(wěn)定度系數(shù)是標(biāo)準(zhǔn)差與平均值的變量函數(shù)。

2.如權(quán)利要求1中所述的裝置(1)，其特征在于：所述規(guī)定時間段對應(yīng)轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)在安裝以后的學(xué)習(xí)階段。

3.如權(quán)利要求1或2中所述的裝置(1)，其特征在于：所述計算單元(10)被設(shè)置為根據(jù)公式SF＝2-10*SDev(CI_LP)/Mean(CI_LP)來計算穩(wěn)定度系數(shù)，其中，SF是穩(wěn)定度系數(shù)，CI_LP是學(xué)習(xí)階段內(nèi)的參數(shù)值，SDev(CI_LP)是學(xué)習(xí)階段內(nèi)參數(shù)值的標(biāo)準(zhǔn)差，Mean(CI_LP)是學(xué)習(xí)階段內(nèi)參數(shù)值的平均值。

4.如權(quán)利要求3中所述的裝置(1)，其特征在于：所述計算單元(10)被設(shè)置為在SDev(CI_LP)/Mean(CI_LP)≥0.3時，將穩(wěn)定度系數(shù)設(shè)定為-1，在SDev(CI_LP)/Mean(CI_LP)≤0.1時，將穩(wěn)定度系數(shù)設(shè)定為1。

5.如前述權(quán)利要求中任意一項所述的裝置(1)，其特征在于：所述計算單元(10)被設(shè)置為采用報警敏感度系數(shù)(AS)來調(diào)整閾值。

6.如權(quán)利要求5中所述的裝置(1)，其特征在于：所述計算單元(10)被設(shè)置為根據(jù)公式TL＝(AS+SF)*SDev(CI_LP)+Mean(CI_LP)對閾值進行調(diào)整，其中TL為所述閾值。

7.一種用于檢測轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)的缺陷的方法，所述轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)包含一個或者一個以上的轉(zhuǎn)動部件(4、6)，該方法包括：

測量規(guī)定時間段內(nèi)轉(zhuǎn)動設(shè)備(2)的參數(shù)(P)；

計算規(guī)定時間段內(nèi)參數(shù)(P)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差；

基于規(guī)定時間段內(nèi)的平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的匯總結(jié)果來計算閾值；以及

通過比較參數(shù)(P)的當(dāng)前值與算出的閾值來檢測缺陷；

其特征在于：

所述方法還包含采用穩(wěn)定度系數(shù)對計算出的閾值進行調(diào)整，所述穩(wěn)定度系數(shù)是標(biāo)準(zhǔn)差和平均值的變量函數(shù)。