[發明專利]減小非型閃存過擦除現象的方法、系統、存儲介質和終端

在審

• 申請號: 202010597826.6
• 申請日: 2020-06-28
• 公開（公告）號: CN111785314A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 張柱定;王振彪;高益
• 申請（專利權）人: 深圳市芯天下技術有限公司
• 主分類號: G11C16/34
• 分類號: G11C16/34;G11C16/14
• 代理公司: 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377
• 代理人: 陳志超;唐敏珊

1.一種減小非型閃存過擦除現象的方法，其特征在于，具體包括以下步驟：

S1：同時選中需要擦除的區域內的所有字線上的單元并對所有單元執行擦除操作；

S2：按照字線編號順序，逐一檢查擦除區域內的每根字線，判斷當前檢查的一根字線上的所有單元是否均擦除成功，若當前檢查的一根字線上的所有單元均擦除成功則跳轉至S2，若當前檢查的一根字線上有單元擦除不成功則跳轉至S3；

S3：對當前檢查的一根字線上的單元執行再擦除操作，直至當前檢查的一根字線上的所有單元擦除成功后跳轉至S2。

2.根據權利要求1所述的減小非型閃存過擦除現象的方法，其特征在于，所述S3包括以下步驟：

s31：對當前檢查的一根字線上的單元執行擦除操作；

s32：判斷當前檢查的一根字線上的所有單元是否均擦除成功，若是則跳轉至S2，否則跳轉至s31。

3.根據權利要求1所述的減小非型閃存過擦除現象的方法，其特征在于，所述S3之后還包括以下步驟：

S3：對當前檢查的一根字線上的單元執行再擦除操作，直至當前檢查的一根字線上的所有單元均擦除成功后跳轉至S4；

S4：判斷需要擦除的區域內的所有字線是否均已檢查完畢，是則跳轉至S5，否則跳轉至S2；

S5：使芯片進入待機狀態。

4.根據權利要求1所述的減小非型閃存過擦除現象的方法，其特征在于，執行擦除操作是對需要擦除的單元施加擦除脈沖實現。

5.根據權利要求1所述的減小非型閃存過擦除現象的方法，其特征在于，所述需要擦除的區域為扇區擦除和塊擦除。

6.一種采用如權利要求1至5任一項所述的減小非型閃存過擦除現象的方法的系統，其特征在于，包括：

選中需要擦除的字線上的單元并對選中字線上的單元執行擦除操作的擦除模塊（A1）；

按照字線編號順序，逐一檢查擦除區域內的每根字線，判斷當前檢查的一根字線上的所有單元是否均擦除成功的檢查模塊（A2）。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，還包括：判斷需要擦除的區域內的所有字線是否均已檢查完畢的判斷模塊（A3）。

8.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，還包括：使芯片實現上電的上電模塊（A4）和使芯片進入待機狀態的待機模塊（A5）。

9.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序，當所述計算機程序在計算機上運行時，使得所述計算機執行權利要求1至5任一項所述的方法。

10.一種終端，其特征在于，包括處理器（B301）和存儲器（B302），所述存儲器（B302）中存儲有計算機程序，所述處理器（B301）通過調用所述存儲器（B302）中存儲的所述計算機程序，用于執行權利要求1至5任一項所述的方法。