[發明專利]掃描式電路板焊點虛焊自動檢測系統及檢測方法有效
| 申請號: | 202010591848.1 | 申請日: | 2020-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN111735850B | 公開(公告)日: | 2022-08-23 |
| 發明(設計)人: | 孔令超;鄭振;張威;劉威;安榮 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號: | G01N25/72 | 分類號: | G01N25/72 |
| 代理公司: | 哈爾濱龍科專利代理有限公司 23206 | 代理人: | 李智慧 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 掃描 電路板 焊點虛焊 自動檢測 系統 檢測 方法 | ||
1.一種掃描式電路板焊點虛焊自動檢測系統的檢測方法,其特征在于:所述掃描式電路板焊點虛焊自動檢測系統包括振鏡式掃描激光器(1)、數碼光學顯微鏡(2)、紅外熱像儀(3)和計算機(4),所述振鏡式掃描激光器(1)包括激光頭(11)和系統平臺(12),所述激光頭(11)設置在系統平臺(12)的上方并與系統平臺(12)電連接,所述紅外熱像儀(3)和數碼光學顯微鏡(2)分別位于激光頭(11)的旁側,所述紅外熱像儀(3)和數碼光學顯微鏡(2)的視野重合并位于激光頭(11)在待測電路板(5)的掃描范圍內,所述紅外熱像儀(3)與計算機(4)電連接,所述數碼光學顯微鏡(2)與計算機(4)或者系統平臺(12)電連接,其檢測方法包括以下步驟:
步驟一、在振鏡式掃描激光器(1)的系統平臺(12)里設置檢測區焊點掃描模板并保存;
步驟二、在振鏡式掃描激光器(1)的系統平臺(12)里設置檢測激光參數并保存;
步驟三、在紅外熱像儀(3)里為檢測區各焊點設置測溫區并保存測溫模板;
步驟四、在紅外熱像儀(3)里為檢測區各焊點設置測溫閥值并保存;
步驟五、將待測電路板(5)固定在激光頭(11)的下方,啟動振鏡式掃描激光器(1),所發射的激光自動掃描待測電路板(5)上檢測區的各個焊點,紅外熱像儀(3)處于實時監測狀態,若待測電路板焊點的最高溫度值小于等于其閥值,則該焊點合格,若待測電路板焊點的最高溫度值大于其閥值,則該焊點不合格;
所述步驟四中,所述閥值的設定方法為:
步驟1、制作若干個相同類型的電路板焊點(8),在步驟二的檢測激光參數下照射每個焊點(8)固定的時間n秒,同時通過紅外熱像儀實時監測每個焊點(8)和其引線(9)處的溫升過程,選取焊點溫升曲線和其引線溫升曲線相吻合的焊點作為標準焊點,并記錄標準焊點的溫度峰值;
步驟2、將步驟1篩選出的若干個標準焊點在靠近該焊點(8)的引線(9)處截掉部分引線,每個標準焊點截掉的部分引線寬度不等,獲得若干個代表不同缺陷程度的標準缺陷焊點;
步驟3、在與步驟1相同檢測激光參數下照射每個標準缺陷焊點n秒,同時通過紅外熱像儀實時監測每個標準缺陷焊點的溫升過程,記錄每個標準缺陷焊點的溫度峰值,獲得不同缺陷程度的標準缺陷焊點的標定值;
步驟4、設定閥值,閥值在大于標準焊點的溫度峰值2-5℃且小于等于可接受缺陷程度的標準缺陷焊點的標定值之間選取。
2.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于:所述檢測系統還包括X-Y-θ三維調節載物臺(6)和驅動控制系統(7),所述X-Y-θ三維調節載物臺(6)設置在系統平臺(12)上并位于激光頭(11)的下方,所述X-Y-θ三維調節載物臺(6)與驅動控制系統(7)電連接,所述驅動控制系統(7)與計算機(4)電連接。
3.根據權利要求1所述檢測方法,其特征在于,所述步驟一的具體步驟為:拍攝待測電路板(5)檢測區圖片,用PS圖像處理軟件,增加一透明圖層在原圖片上,在透明圖層上對應各個焊點的位置設置掃描區,其掃描區小于焊點面積,移除原圖片,獲得焊點掃描模板,將焊點掃描模板輸入振鏡式掃描激光器(1)的系統平臺(12),調整參數使激光掃描位置與待測電路板(5)各個焊點重合。
4.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述步驟一的具體步驟為:根據待測電路板(5)制備坐標圖或通過測量取得各個焊點之間的相對坐標,依據焊點大小和焊點的坐標直接在振鏡式掃描激光器(1)的系統平臺(12)里畫出焊點掃描模板。
5.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于:所述步驟二中,設置的檢測激光參數使各個合格焊點在0.5~2s間的最高溫升在高于室溫10~30℃之間。
6.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于:步驟三中,各焊點測溫區的面積小于對應焊點的面積。
7.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于:步驟五中,將待測電路板(5)設置為若干個檢測區,逐個檢測區檢測。
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