[發(fā)明專利]一種用于淺層地表探測(cè)方法及瞬變電磁儀器

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010584049.1
• 申請(qǐng)日: 2020-06-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111538093A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-08-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李聰;曾昭發(fā);段清明;李靜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 吉林大學(xué)
• 主分類號(hào): G01V3/10
• 分類號(hào): G01V3/10
• 代理公司: 北京科家知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427
• 代理人: 宮建華

1.一種用于淺層地表探測(cè)方法，其特征在于，包括：

設(shè)置反向串聯(lián)上下平行共軸的兩個(gè)相同線圈，以使得所述兩個(gè)相同線圈通路電流等值同步，電流方向相反，所述兩線圈被配置成雙線圈源；

將接收線圈置于所述雙線圈源正中間的一次場(chǎng)零磁通平面，與雙線圈源共軸的位置；

對(duì)待勘測(cè)地質(zhì)條件參數(shù)以及物理特征參數(shù)進(jìn)行采集，在所述待勘測(cè)地質(zhì)條件參數(shù)以及物理特征參數(shù)符合瞬變電磁法測(cè)試的情形下，設(shè)置瞬變電磁剖面，進(jìn)行數(shù)據(jù)采集；

對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行反演，得到各剖面電阻率等值線斷面，分析各瞬變電磁探測(cè)剖面反演成果，對(duì)所述反演結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確性分析操作，指導(dǎo)淺層地表探測(cè)作業(yè)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述反向串聯(lián)上下平行共軸的兩個(gè)相同線圈直徑為第一預(yù)設(shè)尺寸，所述兩個(gè)相同線圈之間設(shè)置為預(yù)設(shè)間距。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述接收線圈直徑設(shè)為第二預(yù)設(shè)尺寸，接收等效面積為預(yù)設(shè)面積。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述設(shè)置瞬變電磁剖面，包括：將上游側(cè)設(shè)置為零樁號(hào)起點(diǎn)，在不同的高程布設(shè)若干條瞬變電磁剖面，各測(cè)線點(diǎn)距預(yù)設(shè)距離。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述數(shù)據(jù)采集的參數(shù)包括：發(fā)送電壓、發(fā)送電流、發(fā)送頻率，關(guān)斷時(shí)間，疊加周期。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述對(duì)所述反演結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確性分析操作，指導(dǎo)淺層地表探測(cè)作業(yè)，包括：采用高密度電阻率發(fā)數(shù)據(jù)對(duì)比的方法，對(duì)所述反演結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確性分析操作，將得到的分析結(jié)果作為淺層地表探測(cè)作業(yè)的指導(dǎo)。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述對(duì)所述反演結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確性分析操作，指導(dǎo)淺層地表探測(cè)作業(yè)，包括：

采用鉆孔驗(yàn)證的方法，在瞬變電磁測(cè)線上布置多個(gè)驗(yàn)證鉆孔，對(duì)反演結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證，得到的驗(yàn)證結(jié)果指導(dǎo)淺層地表探測(cè)作業(yè)。

8.一種用于淺層地表探測(cè)瞬變電磁儀器，其特征在于，包括：

兩個(gè)發(fā)送線圈，接收線圈以及控制部；

所述發(fā)送線圈，包括，反向串聯(lián)上下平行共軸的兩個(gè)相同線圈，以使得所述兩個(gè)相同線圈通路電流等值同步，電流方向相反，所述兩線圈被配置成雙線圈源；

所述接收線圈，置于所述雙線圈源正中間的一次場(chǎng)零磁通平面，并且與所述雙線圈源共軸的位置；

所述控制部，用于對(duì)待勘測(cè)地質(zhì)條件參數(shù)以及物理特征參數(shù)進(jìn)行采集，在所述待勘測(cè)地質(zhì)條件參數(shù)以及物理特征參數(shù)符合瞬變電磁法測(cè)試的情形下，設(shè)置瞬變電磁剖面，進(jìn)行數(shù)據(jù)采集；

對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行反演，得到到各剖面電阻率等值線斷面，分析各瞬變電磁探測(cè)剖面反演成果，對(duì)所述反演結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確性分析操作，指導(dǎo)淺層地表探測(cè)作業(yè)。

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，

所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有程序，所述程序被執(zhí)行時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。