[發明專利]一種多類型器件單粒子效應統籌監測系統及監測方法

有效

• 申請號: 202010578602.0
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111781446B
• 公開（公告）日: 2022-11-08
• 發明（設計）人: 李悅;朱翔;馬英起;陳睿;上官士鵬;韓建偉
• 申請（專利權）人: 中國科學院國家空間科學中心
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G11C29/56
• 代理公司: 北京方安思達知識產權代理有限公司 11472
• 代理人: 楊青;劉振

1.一種多類型器件單粒子效應統籌監測系統，其特征在于，該系統包括：設置在測試間的上位機、設置在輻照間的多類型器件單粒子效應監測模塊和輻照源；

所述多類型器件單粒子效應監測模塊包括：綜合測試單元、實驗單元和母板單元；

所述上位機與綜合測試單元相連接；綜合測試單元與實驗單元均連接在母板單元上，并通過母板單元，實現綜合測試單元和實驗單元之間的信號連接與傳輸；輻照源垂直于綜合測試單元存放的多個待測器件；

所述綜合測試單元，用于根據接收到的上位機指令，對實驗單元中的每個待測器件的單粒子效應進行循環檢測，并將檢測得到的每個待測器件的單粒子翻轉次數、單粒子鎖定次數以及循環檢測次數以日志形式打包成測試數據，并將該測試數據及其對應的待測器件信息，發送至上位機；

所述實驗單元，用于存放電源電流采樣芯片和多個待測器件；

所述母板單元，用于綜合測試單元和實驗單元之間的信號連接與傳輸；

所述上位機，用于接收每個待測器件的測試數據及其對應的待測器件信息，并將其進行圖形界面顯示；

在輻照試驗過程中，輻照源中的高能帶電粒子入射到待測器件后，根據實時監測的實驗單元中的每個待測器件的工作狀態，得到每個待測器件的單粒子翻轉次數；具體為：

在輻照試驗過程中，輻照源中的高能帶電粒子入射到待測器件后，實時監測實驗單元中的每個待測器件是否正常工作；

如果高能帶電粒子入射到待測器件后，待測器件仍可進行正常工作，則待測器件沒有發生單粒子效應；

如果高能帶電粒子入射到待測器件后，待測器件異常，則待測器件發生單粒子效應，記錄當前待測器件的單粒子翻轉次數及其當前循環次數。

2.根據權利要求1所述的多類型器件單粒子效應統籌監測系統，其特征在于，所述綜合測試單元包括：單粒子翻轉子單元和單粒子閂鎖子單元；

所述單粒子翻轉子單元，用于在輻照試驗過程中，輻照源中的高能帶電粒子入射到待測器件后，根據實時監測的實驗單元中的每個待測器件的工作狀態，得到每個待測器件的單粒子翻轉次數；

所述單粒子閂鎖子單元，用于在輻照試驗過程中，對實時獲取的該待測器件的實際電源電流值進行處理，得到單粒子閂鎖次數和循環次數。

3.根據權利要求1所述的多類型器件單粒子效應統籌監測系統，其特征在于，所述在輻照試驗過程中，對實時獲取的該待測器件的實際電源電流值進行處理，得到單粒子閂鎖次數和循環次數；具體為：

在輻照試驗過程中，將實時獲取的該待測器件的實際電源電流值與預先設定的電流閾值進行比較；

如果該待測器件的實際電源電流值大于預先設定的電流閾值，則將該次檢測作為單粒子閂鎖次數，并給待測器件進行斷電再上電操作，同時記錄單粒子閂鎖次數和循環次數；

同時，如果該待測器件發生單粒子閂鎖的次數大于預先設定的閂鎖次數閾值，則停止測試，并結束針對該待測器件的輻照試驗。

4.根據權利要求1所述的多類型器件單粒子效應統籌監測系統，其特征在于，所述多個待測器件包括：靜態隨機存取存儲器、同步動態隨機存取存儲器、FLASH存儲器、電可擦除可編程只讀存儲器、LVDS驅動器、總線驅動器、RS422驅動器、數字隔離器、譯碼器和移位寄存器。