[發明專利]用于生成校正的傳感器數據的系統和方法在審
| 申請號: | 202010571919.1 | 申請日: | 2020-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN112346603A | 公開(公告)日: | 2021-02-09 |
| 發明(設計)人: | N.V.富托普洛斯;K.古達茲;T.S.達塔羅;J.K.雷諾;J.羅什;R.V.舍諾伊;D.索爾文 | 申請(專利權)人: | 辛納普蒂克斯公司 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044;G06F3/041 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李湘;陳嵐 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 生成 校正 傳感器 數據 系統 方法 | ||
1.一種用于電容性感測的方法,包括:
通過在一個或多個跨電容性感測塊期間操作用于跨電容性感測信號的多個傳感器電極來從所述多個傳感器電極獲取第一電容性傳感器數據
通過在第一一個或多個絕對電容性感測塊期間操作用于絕對電容性感測的所述傳感器電極來從所述多個傳感器電極獲取第二電容性傳感器數據;以及
基于所述第一電容性傳感器數據和所述第二電容性傳感器數據確定對于一個或多個輸入對象的位置信息。
2.根據權利要求1所述的方法,其中通過在所述第一一個或多個絕對電容性感測塊期間操作用于絕對電容性感測的所述傳感器電極來獲取所述第二電容性傳感器數據包括:
在第一絕對電容性感測塊期間從所述多個傳感器電極中的第一傳感器電極獲取第一絕對電容性傳感器數據,其中所述第一絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之前發生;以及
在第二絕對電容性感測塊期間從所述多個傳感器電極中的第二傳感器電極獲取第二絕對電容性傳感器數據,并且其中所述第二絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之后。
3.根據權利要求2所述的方法,其中確定對于所述一個或多個輸入對象的所述位置信息包括:
將所述第一絕對電容性傳感器數據與所述第二絕對電容性傳感器數據進行比較;以及
基于第一絕對電容性傳感器數據和所述第二絕對電容性傳感器數據之間的差來調整所述第一電容性傳感器數據。
4.根據權利要求1所述的方法,還包括:
通過在第二一個或多個絕對電容性感測塊期間操作用于絕對電容性感測的所述多個傳感器電極來從所述多個傳感器電極獲取第三電容性傳感器數據,其中所述第一一個或多個絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之前發生,以及所述第二一個或多個絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之后發生;以及
將所述第二電容性傳感器數據與所述第三電容性傳感器數據進行比較;以及
其中確定對于所述一個或多個輸入對象的所述位置信息還基于所述第二電容性傳感器數據與所述第三電容性傳感器數據的所述比較。
5.根據權利要求4所述的方法,其中:
獲取所述第二電容性傳感器數據包括:
在第一絕對電容性感測塊期間從所述多個傳感器電極中的第一傳感器電極獲取第一絕對電容性傳感器數據;以及
在第二絕對電容性感測塊期間從所述多個傳感器電極中的第二傳感器電極獲取第二絕對電容性傳感器數據,其中所述第一和第二絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之前發生;
獲取所述第三電容性傳感器數據包括:
在第三絕對電容性感測塊期間從所述第一傳感器電極獲取第三絕對電容性傳感器數據;
在第四絕對電容性感測塊期間從所述第二傳感器電極獲取第四絕對電容性傳感器數據,并且其中所述第三和第四絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之后發生;以及
將所述第二電容性傳感器數據與所述第三電容性傳感器數據進行比較包括:
將所述第一絕對電容性傳感器數據與所述第三絕對電容性傳感器數據進行比較;以及
將所述第二絕對電容性傳感器數據與所述第四絕對電容性傳感器數據進行比較以生成更新的絕對電容性傳感器數據。
6.根據權利要求1所述的方法,其中獲取所述第二電容性傳感器數據包括:
在第一絕對電容性感測塊期間從所述多個傳感器電極中的第一傳感器電極獲取第一絕對電容性傳感器數據;以及
在第二絕對電容性感測塊期間從所述多個傳感器電極中的第二傳感器電極獲取第二絕對電容性傳感器數據,其中所述第一和第二絕對電容性感測塊在所述一個或多個跨電容性感測塊之前發生,并且其中確定對于所述一個或多個輸入對象的所述位置信息包括:
基于所述第一絕對電容性傳感器數據和所述第二絕對電容性傳感器數據中的至少一個來檢測所述第一電容性傳感器數據中的一個或多個偽像;以及
響應于檢測到所述一個或多個偽像而調整所述第一電容性傳感器數據。
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