[發明專利]射頻功率校正方法、裝置、測試設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010561640.5
• 申請日: 2020-06-18
• 公開（公告）號: CN111769889A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 陶幫富
• 申請（專利權）人: 上海聞泰信息技術有限公司
• 主分類號: H04B17/11
• 分類號: H04B17/11;H04B1/40
• 代理公司: 北京超成律師事務所 11646
• 代理人: 高玉光

1.一種射頻功率校正方法，其特征在于，應用于一測試設備，所述測試設備與待測產品及綜測儀均電連接，所述射頻功率校正方法包括：

控制所述待測產品基于預先配置的默認配置文件發射第一射頻信號；

讀取所述綜測儀檢測得到的所述待測產品的第一發射功率；

若所述第一發射功率小于預設定的第一閾值或大于預設定的第二閾值，根據所述第一發射功率確定當前配置文件，其中，所述第一閾值小于所述第二閾值；

調用所述當前配置文件以校正所述待測產品的發射功率。

2.根據權利要求1所述的射頻功率校正方法，其特征在于，在所述調用所述當前配置文件以校正所述待測產品的發射功率的步驟之后，所述方法還包括：

控制所述待測產品基于所述當前配置文件發射第二射頻信號；

讀取所述綜測儀檢測得到的所述待測產品的第二發射功率；

若所述第二發射功率大于或等于所述預設定的第一閾值且小于或等于所述預設定的第二閾值，將所述當前配置文件寫入所述待測產品的存儲器。

3.根據權利要求2所述的射頻功率校正方法，其特征在于，所述方法還包括：

若所述第二發射功率小于所述預設定的第一閾值或大于所述預設定的第二閾值，將所述待測產品標記為不合格產品。

4.根據權利要求1-3中任意一項所述的射頻功率校正方法，其特征在于，所述根據所述第一發射功率確定當前配置文件的步驟包括：

確定所述第一發射功率所在的功率區間；

根據所述功率區間確定所述當前配置文件，其中，所述待測產品包括收發芯片，所述當前配置文件包括所述收發芯片的放大器增益參數，所述功率區間越低，則所述當前配置文件包括的放大器增益參數越高。

5.根據權利要求4所述的射頻功率校正方法，其特征在于，所述根據所述功率區間確定所述當前配置文件的步驟包括：

若所述第一發射功率小于所述預設定的第一閾值，則將預存儲的第一配置文件確定為所述當前配置文件；

若所述第一發射功率大于所述預設定的第二閾值，則將預存儲的第二配置文件確定為所述當前配置文件，其中，A₁AnA₂，A₁為所述第一配置文件包括的放大器增益參數，An為所述默認配置文件包括的放大器增益參數，A₂為所述第二配置文件包括的放大器增益參數。

6.根據權利要求4所述的射頻功率校正方法，其特征在于，所述根據所述功率區間確定所述當前配置文件的步驟包括：

若所述第一發射功率小于所述預設定的第一閾值且大于或等于預先設定的第三閾值，則將預存儲的第一配置文件確定為所述當前配置文件；

若所述第一發射功率小于所述預先設定的第三閾值，則將預存儲的第二配置文件確定為所述當前配置文件；

若所述第一發射功率大于所述預設定的第二閾值且小于或等于預設定的第四閾值，則將預存儲的第三配置文件確定為所述當前配置文件；

若所述第一發射功率大于所述預設定的第四閾值，則將預存儲的第四配置文件確定為所述當前配置文件；

其中，所述第三閾值、所述第一閾值、所述第二閾值以及所述第四閾值依次增大，A₂A₁AnA₃A₄，A₁為所述第一配置文件包括的放大器增益參數，A₂為所述第二配置文件包括的放大器增益參數，An為所述默認配置文件包括的放大器增益參數，A₃為所述第三配置文件包括的放大器增益參數，A₄為所述第四配置文件包括的放大器增益參數。