[發(fā)明專利]一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的電路及方法

在審

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• 申請日: 2020-06-18
• 公開（公告）號: CN111765985A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 費(fèi)鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州棒糖網(wǎng)絡(luò)科技有限公司
• 主分類號: G01K7/24
• 分類號: G01K7/24;G01K13/00
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務(wù)所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

1.一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的電路，其特征是，包括依次連接的惠斯通電橋模塊、差分模塊和采樣模塊，所述采樣模塊包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC為12位，經(jīng)過所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC采樣后的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后可得到溫度值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的電路，其特征是，所述惠斯通電橋模塊包括電阻R1、電阻R2、電阻R3和電阻Rx，電源VDD與電阻R1一端和電阻Rx一端相連接，電阻R1另一端分別與電阻R2一端和差分模塊正向輸入端相連接，電阻Rx另一端分別與電阻R3一端和差分模塊負(fù)向輸入端相連接，電阻R2另一端和電阻R3另一端均接地。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的電路，其特征是，所述電阻Rx為測溫?zé)崦綦娮琛?/p>

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的電路，其特征是，所述電阻R1另一端與電阻R2一端之間為V0點(diǎn)，電阻Rx另一端與電阻R3一端之間為V1點(diǎn)。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的電路，其特征是，所述差分模塊包括差分放大器X4，差分放大器X4的P+端為正向輸入端，差分放大器X4的P-端為負(fù)向輸入端，差分放大器的輸出端與采樣模塊相連接。

6.一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的方法，采用權(quán)利要求1-5任意一項(xiàng)所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的方法，其特征是，包括以下步驟：

S1：使用惠斯通電橋模塊進(jìn)行測溫得到差分電壓ΔV；

S2：將差分電壓ΔV通過差分模塊放大之后進(jìn)入單片機(jī)的12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC；

S3：經(jīng)過12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC采樣后的數(shù)據(jù)通過轉(zhuǎn)換得到溫度值并達(dá)到0.01℃的精度。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的方法，其特征是，所述S1包括以下步驟：

S11：使可變電阻Rx發(fā)生變化；

S12：計(jì)算V0點(diǎn)和V1點(diǎn)之間產(chǎn)生電壓差ΔV。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于12位ADC實(shí)現(xiàn)高精度測溫的方法，其特征是，電壓差ΔV的計(jì)算公式為：ΔV = (1/2 –20/(20+RX))*VDD

其中VDD為電源電壓，Rx為測溫?zé)崦綦娮瑁琕0點(diǎn)的電壓為1/2VDD，V1點(diǎn)的電壓為20/(20+RX)*VDD。