[發明專利]坐標定位方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010548918.5
• 申請日: 2020-06-16
• 公開（公告）號: CN111696154B
• 公開（公告）日: 2023-06-13
• 發明（設計）人: 李雪
• 申請（專利權）人: 北京惠朗時代科技有限公司
• 主分類號: G06T7/66
• 分類號: G06T7/66;G06T7/90;G06V10/25;G06V10/28;G06T7/70
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明實施例公開了一種坐標定位方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括：獲取原始印章圖像；所述原始印章圖像中包括至少一組印章，各組印章中包括兩個部分重疊的印章；對所述原始印章圖像進行預處理，得到二值化的印章圖像；對所述二值化的印章圖像進行水平投影和垂直投影，得到原始印章圖像中的各印章的中心點坐標。本發明實施例的技術方案，提高了獲取印章中心點的坐標的效率和準確度。

技術領域

本發明實施例涉及圖像處理技術領域，尤其涉及一種坐標定位方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

目前，銀行等機構在為用戶辦理業務時，通常需要在文件上蓋大量的印章，為了節省人力資源，提高作業效率，可以使用印控儀來進行蓋章操作。

現有技術中，使用印控儀蓋章時，實際蓋章點往往與標準蓋章點有一定的偏差，為了確定偏差大小，需要測量印章的中心點坐標。目前主要通過人工測量的方式來獲取印章的中心點坐標，例如，使用直尺等測量工具測量印章中心點坐標，但這種方法的測量效率比較低，準確率也比較差。

發明內容

本發明實施例提供一種坐標定位方法、裝置、設備及存儲介質，以提高獲取印章中心點的坐標的效率和準確度。

第一方面，本發明實施例提供了一種坐標定位方法，包括：

獲取原始印章圖像；原始印章圖像中包括至少一組印章，各組印章中包括兩個部分重疊的印章；

對原始印章圖像進行預處理，得到二值化的印章圖像；

對二值化的印章圖像進行水平投影和垂直投影，得到原始印章圖像中的各印章的中心點坐標。

可選的，對原始印章圖像進行預處理，得到二值化的印章圖像，包括：

對原始印章圖像進行灰度化處理和二值化處理，得到印章為黑色的二值化的印章圖像。

可選的，對二值化的印章圖像進行水平投影和垂直投影，得到原始印章圖像中的各印章的中心點坐標，包括：

按照自上至下的順序，對二值化的印章圖像的每一行像素進行水平投影，并獲取各目標黑色像素的縱坐標值；

其中，目標黑色像素的前一像素為白色像素；

按照自左至右的順序，對二值化的印章圖像的每一列像素進行垂直投影，并獲取各目標黑色像素的橫坐標值；

根據各目標黑色像素的橫坐標值和縱坐標值，確定原始印章圖像中的各印章的中心點坐標。

可選的，根據各目標黑色像素的橫坐標值和縱坐標值，確定原始印章圖像中的各印章的中心點坐標，包括：

分別確定與各組印章對應的目標黑色像素集合；

從當前目標黑色像素集合中，獲取縱坐標值最小的目標黑色像素作為第一參考像素，獲取橫坐標值最小的目標黑色像素作為第二參考像素，獲取橫坐標值最大的目標黑色像素作為第三參考像素；

將與第一參考像素對應的較小的橫坐標值作為第一橫坐標，將第二參考像素的縱坐標作為第一縱坐標，得到與當前目標黑色像素集合對應的印章組中第一印章的中心點坐標；

將與第一參考像素對應的較大的橫坐標值作為第二橫坐標，將第三參考像素的縱坐標作為第二縱坐標，得到與當前目標黑色像素集合對應的印章組中第二印章的中心點坐標。

可選的，原始印章圖像中包括的至少一組印章是由印控儀根據蓋章指令蓋的；

蓋章指令中包括至少一個標準蓋章點的坐標；

每個標準蓋章點對應原始印章圖像中的一組印章；

每組印章中包括的兩個印章的標準中心點坐標是根據對應的標準蓋章點的坐標計算得到的。