[發明專利]一種小區測量方法及裝置

在審

• 申請號: 202010535917.7
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN113810924A
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 劉海義;徐波;趙辰;師江偉;王洲
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02;H04W36/00;H04W36/08;H04W36/30
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 趙玲

本申請公開了一種小區測量方法及裝置，應用于無線通信技術領域，用于提高終端設備的小區接入效率和成功率。基站向終端設備發送第一測量配置信息；所述第一測量配置信息包括第一目標小區的測量間隙測量gap配置信息和第二目標小區的測量gap配置信息；其中，所述第一目標小區和所述第二目標小區為所述終端設備待測量的小區，且所述第一目標小區的小區頻點與所述第二目標小區的小區頻點不同。

技術領域

本申請涉及通信技術領域，尤其涉及一種小區測量方法及裝置。

背景技術

在通信系統中，為了保證終端設備的業務連續性和通信質量，終端設備通常需要進行小區測量，從而實現小區重選(reselection)和小區切換(handover)。其中小區測量的種類包括同頻測量、異頻/異系統測量。

當終端設備初始接入或在無線資源控制(radio resource control，RRC)連接態(RRC_connective)的過程中進行異頻/異系統測量，為了保證UE和當前服務小區的無線鏈路質量，UE通常在指定的時間段，停止接收其服務小區的信號以及數據，并接收其他小區的信號進行異頻測量或異系統測量。當該時間段結束后，UE再開始接收服務小區的信號以及數據。這個時間段稱為測量間隙(measurement gap)。在測量gap內終端設備接收鄰小區的參考信號，并對鄰小區的參考信號進行測量，在測量完成后終端設備向管理服務小區的基站發送測量報告(measurement report)。然后基站再根據測量報告將終端設備切換到信號質量更好的小區上。

目前，終端設備在進行小區測量之前，需要由管理服務小區的基站進行測量配置，并將測量配置信息發送給終端設備。終端設備可以根據接收到的測量配置信息，確定每個測量gap的位置，以進行鄰小區測量。通常測量gap長度為6毫秒(ms)。其中，測量配置信息中包含：測量gap重復周期(measurement gap repetition period，MGRP)(又稱為測量gap周期)、測量gap長度(measurement gap length，MGL)(簡稱為測量gap長度)，和測量gap偏移量(測量gap offset)。

為了提高小區測量效率，在測量gap內終端設備應該能夠接收到所有待測量鄰小區的參考信號。然而，目前現有技術中，在相同的頻段(frequency range，FR)下，網絡設備只會為一個終端設備確定一種測量gap的測量配置信息，而不同鄰小區發送參考信號的時域位置可能不同。因此，終端設備根據測量配置信息確定的測量gap可能不包含某些待測量鄰小區的參考信號的時域位置，導致終端設備無法接收到這些待測量鄰小區的參考信號，進而無法完成對所有待測量小區的測量。

發明內容

本申請提供了一種小區測量方法及裝置，用以提高終端設備小區測量的成功率和效率。

第一方面，本申請提供一種小區測量方法，基站向終端設備發送第一測量配置信息；所述第一測量配置信息包括第一目標小區的測量間隙測量gap配置信息和第二目標小區的測量gap配置信息；其中，所述第一目標小區和所述第二目標小區為所述終端設備待測量的小區，且所述第一目標小區的小區頻點與所述第二目標小區的小區頻點不同。

該方法可由基站執行，也可以由網絡設備或接入網絡設備等通信設備執行，也可以是通信設備或能夠支持通信設備實現該方法所需的功能的通信裝置執行，例如芯片。通過上述方法，在相同的頻段下，若待測量的目標小區包括第一目標小區和第二目標小區，且第一目標小區和第二目標小區的頻點不同，此時，基站可以為終端設備配置第一目標小區的測量間隙測量gap配置信息和第二目標小區的測量gap配置信息，從而實現了終端設備可以根據第一目標小區的測量間隙測量gap配置信息和第二目標小區的測量gap配置信息，在配置的測量間隙中可以測量不同小區頻點的第一目標小區和第二目標小區，完成對所有待測量小區的測量，從而提高小區測量效率和小區測量的成功率。