[發(fā)明專利]具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010531727.8
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111693543B
• 公開（公告）日: 2023-02-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈鳳祥;蘇燦燦;唐鈺婷;劉英奇
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州奧特福環(huán)境科技有限公司
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發(fā)明涉及環(huán)境監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法，具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備包括外殼、第一探測器和光源。外殼具有第一窗口和第二窗口，第一窗口安裝有透明的第一鏡片，第二窗口安裝有透明的第二鏡片。第一鏡片與第二鏡片之間相對且呈夾角設(shè)置。光源和第一探測器均位于外殼的內(nèi)腔中，且光源和第一探測器分別位于第二鏡片和第一鏡片的內(nèi)側(cè)。監(jiān)測步驟包括：使得光源的光線依次經(jīng)過第二鏡片和第一鏡片之后，被第一探測器接收。第一探測器獲取第一鏡片和第二鏡片的窗口污染參數(shù)，如果第一鏡片和第二鏡片被污染，則輸出清理第一鏡片和第二鏡片的信號。本發(fā)明能夠提高判斷窗口鏡片污染情況的準(zhǔn)確度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及環(huán)境監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法。

背景技術(shù)

在環(huán)境監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域，一般通過在線監(jiān)測設(shè)備對環(huán)境進(jìn)行監(jiān)測。在線監(jiān)測設(shè)備一般包括外殼和安裝于外殼內(nèi)腔的監(jiān)測器，外殼開設(shè)有監(jiān)測窗口，該監(jiān)測窗口安裝有鏡片。鏡片上容易落有灰塵等污染物，即鏡片容易被外界環(huán)境污染。鏡片被污染之后，會降低監(jiān)測器監(jiān)測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

現(xiàn)有，一般是通過專業(yè)人員反復(fù)判斷在線監(jiān)測設(shè)備的鏡片是否被污染。存在的問題是：判斷繁瑣，且判斷準(zhǔn)確度低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法，它能夠提高判斷鏡片污染情況的準(zhǔn)確度。

為達(dá)此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法，包括具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備，所述具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備包括外殼、第一探測器、光源和控制系統(tǒng)；所述外殼具有第一窗口和第二窗口，所述第一窗口安裝有透明的第一鏡片，所述第二窗口安裝有透明的第二鏡片；所述第一鏡片與所述第二鏡片之間相對且呈夾角設(shè)置；所述光源和所述第一探測器均位于所述外殼的內(nèi)腔中，且所述光源和所述第一探測器分別位于所述第二鏡片和所述第一鏡片的內(nèi)側(cè)；

監(jiān)測步驟包括：

1)設(shè)定干凈標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)和正常比例范圍；

2)使得所述光源的光線依次經(jīng)過所述第二鏡片和所述第一鏡片之后，被所述第一探測器接收；

3)所述第一探測器獲取所述第一鏡片和所述第二鏡片的污染數(shù)據(jù)，將所述干凈標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)與所述污染數(shù)據(jù)對比獲得污染比例數(shù)據(jù)；

4)如果所述污染比例數(shù)據(jù)超出所述正常比例范圍，則通過所述控制系統(tǒng)輸出清理所述第一鏡片和所述第二鏡片的信號；如果所述污染比例數(shù)據(jù)未超出所述正常比例范圍，則將所述污染比例數(shù)據(jù)輸送給所述控制系統(tǒng)。

優(yōu)選地，在上述的具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法中，在步驟2)中，使所述光源與所述第一探測器分布于同一條水平線上。

優(yōu)選地，在上述的具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法中，所述第一窗口與所述第二窗口形成V字形結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選地，在上述的具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法中，所述具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備還包括位于所述內(nèi)腔的第二探測器；所述具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法還包括：

5)使所述光源的部分光線經(jīng)過所述第二鏡片反射之后，被所述第二探測器接收，所述第二探測器獲取所述光源的光線衰弱數(shù)據(jù)；

6)將標(biāo)準(zhǔn)光線數(shù)據(jù)與所述光線衰弱數(shù)據(jù)對比，獲得衰弱比例數(shù)據(jù)；

7)如果所述衰弱比例數(shù)據(jù)超出衰弱正常范圍，則通過所述控制系統(tǒng)輸出更換所述光源的信號；如果所述衰弱比例數(shù)據(jù)未超出所述衰弱正常范圍，則將所述衰弱比例數(shù)據(jù)輸送給所述控制系統(tǒng)。

優(yōu)選地，在上述的具有自檢功能的監(jiān)測設(shè)備的監(jiān)測方法中，步驟5)中，使得所述第二探測器與所述光源關(guān)于所述第二鏡片的垂直平分線對稱。