[發明專利]基于散斑圖的結構光相機行偏差的自動檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 202010525452.7
• 申請日: 2020-06-10
• 公開（公告）號: CN111768450B
• 公開（公告）日: 2023-10-13
• 發明（設計）人: 戶磊;劉祺昌;化雪誠;薛遠;李東洋
• 申請（專利權）人: 合肥的盧深視科技有限公司
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80;G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 張睿

1.一種基于散斑圖的結構光相機行偏差的自動檢測方法，其特征在于，包括：

確定測試物體的散斑圖為測試圖，并提取所述測試圖對應的深度圖，其中，所述散斑圖是通過待測結構光相機開啟散斑投射器照射所述測試物體形成；

提取所述測試圖的顯著區域，得到顯著圖，基于所述顯著圖確定顯著掩模，其中，所述顯著圖和所述測試圖的大小相同，所述顯著掩模為與所述顯著圖大小相同的矩陣；

基于所述顯著掩模對所述測試圖進行漫水填充處理得到擴展顯著掩模，所述擴展顯著掩模為與所述測試圖大小相同的矩陣且用于標識所述顯著圖中的擴展顯著區域；

基于所述深度圖，確定所述擴展顯著掩模中的深度有效個數，所述深度有效個數為所述擴展顯著掩模標識的擴展顯著區域在所述深度圖中的對應區域中有深度值的像素點總個數；

基于所述深度有效個數和所述擴展顯著區域的像素點總個數，判定所述待測結構光相機是否存在行偏差。

2.根據權利要求1所述的基于散斑圖的結構光相機行偏差的自動檢測方法，其特征在于，所述確定測試物體的散斑圖為測試圖，并提取所述測試圖對應的深度圖，其中，所述散斑圖是通過待測結構光相機開啟散斑投射器照射所述測試物體形成，具體包括：

采集測試物體的連續多幀散斑圖，從第一幀散斑圖開始依次進行讀取和模糊檢測，直到出現檢測結果為不模糊的散斑圖，停止檢測并確定所述檢測結果為不模糊的散斑圖為測試圖；

其中，所述散斑圖是通過待測結構光相機開啟散斑投射器照射所述測試物體形成；

對所述測試圖采用所述待測結構光相機自帶的深度恢復算法進行處理得到所述測試圖對應的深度圖。

3.根據權利要求2所述的基于散斑圖的結構光相機行偏差的自動檢測方法，其特征在于，散斑圖的模糊檢測過程和模糊檢測結果判定規則，具體包括：

對散斑圖進行邊緣檢測，獲取所述散斑圖中任一散斑點的輪廓；

基于任一散斑點的輪廓提取所述任一散斑點的輪廓周長；

確定輪廓周長超過第一閾值的散斑點為模糊散斑點；

若所述模糊散斑點的總個數超過第二閾值，則所述散斑圖的模糊檢測結果為模糊，否則，所述散斑圖的模糊檢測結果為不模糊。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的基于散斑圖的結構光相機行偏差的自動檢測方法，其特征在于，所述提取所述測試圖的顯著區域，得到顯著圖，基于所述顯著圖確定顯著掩模，其中，所述顯著圖和所述測試圖的大小相同，所述顯著掩模為與所述顯著圖大小相同的矩陣，具體包括：

確定所述測試圖的灰度直方圖；

通過如下公式計算所述測試圖中任一像素點a的顯著值Sal(I_a):

其中，I_a為所述任一像素點a的灰度值，I_i為所述灰度直方圖中的第i種灰度值，b_i為所述灰度直方圖中第i種灰度值的個數，i＝1,2,…,N，N為所述灰度直方圖中灰度值的種類數量；

將所述測試圖中的任一像素點的灰度值替換成該任一像素點的顯著值，得到顯著圖；

若顯著圖中的任一像素點的顯著值超過第三閾值，則將該任一像素點置為高顯著度，否則，將該任一像素點置為低顯著度；

構建與所述顯著圖大小相同的矩陣作為顯著掩模，將所述顯著圖中所有高顯著度的像素點對應于所述顯著掩模的位置的元素賦值為b，將所述顯著圖中所有高顯著度的像素點對應于所述顯著掩模的位置的元素賦值為c，其中，b和c均為實數且b≠c。

5.根據權利要求4所述的基于散斑圖的結構光相機行偏差的自動檢測方法，其特征在于，所述基于所述顯著掩模對所述測試圖進行漫水填充處理得到擴展顯著掩模，所述擴展顯著掩模為與所述測試圖大小相同的矩陣且用于標識所述顯著圖中的擴展顯著區域，具體包括：

將所述顯著掩模中賦值為b的位置對應于所述測試圖中的像素點作為種子點，納入漫水填充處理；

將各種子點漫水填充得到的像素點對應于所述顯著掩模中的位置賦值為b，得到擴展顯著掩模；

其中，所述擴展顯著掩模中賦值為b的各個位置組成的區域在所述顯著圖中的對應區域為擴展顯著區域。