[發明專利]一種磁瓦測試裝置及方法

在審

• 申請號: 202010514088.4
• 申請日: 2020-06-08
• 公開（公告）號: CN111722161A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 楊躍紅;何震宇;盧曉強;黃華為;張箏;吳賽航
• 申請（專利權）人: 橫店集團東磁股份有限公司
• 主分類號: G01R33/028
• 分類號: G01R33/028;G01R1/04
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

1.一種磁瓦測試裝置，包括無磁材質制成的基座、檢測鐵芯和機殼，其特征是，還包括定位卡環，所述定位卡環包括呈空心圓柱狀的卡環主體和由所述卡環主體頂部沿卡環主體軸向延伸出的四個限位爪，所述的四個限位爪兩兩成對形成兩組限位爪組，兩組限位爪組相對布置，同一限位爪組的兩個限位爪和卡環主體頂面之間形成用于卡緊放置待測磁瓦的定位口，所述定位口的內側壁所在的平面穿過所述卡環主體的中心線，所述卡環主體的外徑與所述機殼的內徑相同。

2.根據權利要求1所述的一種磁瓦測試裝置，其特征是，所述定位口的側壁的頂端設有退拔斜角。

3.根據權利要求2所述的一種磁瓦測試裝置，其特征是，所述退拔斜角的角度范圍為3-5度。

4.根據權利要求1或2或3所述的一種磁瓦測試裝置，其特征是，還包括固定卡條，所述固定卡條呈楔形條狀，用于嵌入在待測磁瓦與定位口的內側壁之間。

5.根據權利要求4所述的一種磁瓦測試裝置，其特征是，所述定位卡條的粗端設有著力塊。

6.根據權利要求4所述的一種磁瓦測試裝置，其特征是，所述固定卡條的寬度與所述限位爪沿卡環主體徑向方向的寬度一致。

7.根據權利要求1所述的一種磁瓦測試裝置，其特征是，所述基座上設有升降裝置，所述升降裝置包括升降塊、導軌、傳動裝置和手動調節器，導軌由基座沿檢測鐵芯高度方向布置，所述手動調節器通過傳動裝置控制升降塊上導軌上的位置，所述升降塊用于帶動定位卡環沿檢測鐵芯上下移動。

8.一種磁瓦測試方法，其特征是，包括如下步驟：

步驟一：將兩個待測磁瓦分別放入定位卡環的兩個定位口中，兩個待測磁瓦的底面與所在的定位口的底面完全貼合；

步驟二：將兩個待測磁瓦分別以兩個定位口呈對角線布置的兩個側壁為基準貼合，并將兩個待測磁瓦沿卡環本體的外周對齊；

步驟三：將待測磁瓦與相對應的定位口的非基準側壁之間插入固定卡條；

步驟四：將機殼套在步驟三得到的組合體帶待測磁瓦的一端；

步驟五：將步驟四得到的組合體套設在檢測鐵芯上；

步驟六：調整定位卡環的高度，直至磁通量顯示最大值。