[發明專利]低頻S參數測量的方法

在審

• 申請號: 202010511418.4
• 申請日: 2020-06-08
• 公開（公告）號: CN112051455A
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: J·J·皮克;談侃
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R27/28
• 分類號: G01R27/28
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉書航;申屠偉進

1.一種用于確定被測設備針對第一頻率范圍的散射參數S參數的方法，包括：

接收所述被測設備針對第二頻率范圍的S參數，所述第二頻率范圍大于所述第一頻率范圍；

測量所述被測設備的實際信號；

確定所述被測設備的期望信號；以及

基于針對所述第二頻率范圍的S參數、所述被測設備的實際信號和所述被測設備的期望信號，確定所述被測設備針對所述第一頻率范圍的S參數。

2.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

基于所接收的針對第二頻率范圍的S參數來確定針對第一頻率范圍的第一S參數的起始值；以及

基于所述起始值確定被測設備針對所述第一頻率范圍的S參數。

3.根據權利要求2所述的方法，其中確定被測設備針對第一頻率范圍的S參數包括在多個輪次內迭代地確定針對第一頻率范圍的第一S參數和第二S參數，直到預定輪次數完成。

4.根據權利要求3所述的方法，其中在第一輪次期間，使用第一S參數的起始值來確定第二S參數，在每個后續偶數編號輪次期間，使用在前一奇數編號輪次期間確定的經更新的第二S參數來確定第一S參數，并且在每個后續奇數編號輪次期間，使用在前一偶數編號輪次期間確定的經更新的第一S參數來確定第二S參數。

5.根據權利要求1所述的方法，其中確定被測設備針對第一頻率范圍的S參數包括確定被測設備針對第一頻率范圍的差分S參數，并將所述差分S參數轉換為單端S參數。

6.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

對實際信號和期望信號中的每一個進行重新采樣以匹配記錄長度；以及

將重新采樣的實際信號和重新采樣的期望信號轉換到頻域。

7.根據權利要求6所述的方法，進一步包括調整經轉換的重新采樣實際信號和經轉換的重新采樣期望信號的群延遲，以匹配被測設備的群延遲。

8.根據權利要求1所述的方法，進一步包括在被測設備的存儲器中存儲被測設備針對第一頻率范圍的S參數。

9.根據權利要求1所述的方法，其中第一頻率范圍在零赫茲與25兆赫茲之間。

10.一種測試和測量系統，包括：

階躍發生器，被配置為生成階躍信號；

測試和測量儀器，被配置為基于所述階躍信號測量被測設備的實際響應；以及

一個或多個處理器，被配置為：

確定被測設備的期望信號，以及

基于所接收的被測設備針對大于第一頻率范圍的第二頻率范圍的S參數、被測設備的實際響應和被測設備的期望信號，確定被測設備針對第一頻率范圍的散射參數S參數。

11.根據權利要求10所述的測試和測量系統，其中所述一個或多個處理器進一步被配置為：

基于所接收的針對第二頻率范圍的散射參數來確定針對第一頻率范圍的第一S參數的起始值；以及

基于所述起始值確定被測設備針對第一頻率范圍的S參數。

12.根據權利要求11所述的測試和測量系統，其中確定被測設備針對第一頻率范圍的S參數包括迭代地確定針對第一頻率范圍的第一S參數和第二S參數，直到滿足預定閾值。

13.根據權利要求12所述的測試和測量系統，其中在第一迭代期間，使用第一S參數的起始值來確定第二S參數，在每個后續偶數編號迭代期間，使用在前一奇數編號迭代期間確定的經更新的第二S參數來確定第一S參數，并且在每個后續奇數編號迭代期間，使用在前一偶數編號迭代期間確定的經更新的第一S參數來確定第二S參數。