[發明專利]芯片功耗的測試電路及方法、芯片

在審

• 申請號: 202010501200.0
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN111638441A
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 李旭東;岳士豐;肖勇
• 申請（專利權）人: 硅谷數模（蘇州）半導體有限公司;硅谷數模國際有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 周春枚

1.一種芯片功耗的測試電路，其特征在于，包括：控制器和多個子測試電路，所述多個子測試電路中任意一個子測試電路包括：電源開關模塊、采樣電阻、數字電位計以及模數轉換器，其中，

所述電源開關模塊，用于將電源模塊提供的電壓轉換為目標電壓，所述目標電壓為待測試芯片所需要的電壓；

所述采樣電阻的第一端與所述電源開關模塊連接，所述采樣電阻的第二端與所述待測試芯片連接；

所述模數轉換器與所述采樣電阻并聯連接，用于采集所述采樣電阻兩端的采樣電壓，并將所述采樣電壓發送至所述控制器；

所述控制器依據所述采樣電壓和所述采樣電阻的電阻值確定流入所述待測試芯片的電流，并依據所述電流確定所述待測試芯片的功耗；

所述數字電位計與所述控制器連接，用于在所述控制器的控制下調節所述子測試電路的電阻值。

2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述電源開關模塊包括：第一端口、第二端口、第三端口及第四端口，其中，

所述電源開關模塊通過所述第一端口與所述電源模塊連接；

所述控制器通過所述第二端口使能所述電源開關模塊；

所述電源開關模塊通過所述第三端口輸出所述目標電壓；

所述電源開關模塊通過所述第四端口與所述待測試芯片連接，通過所述第四端口跟蹤所述待測試芯片的輸入電壓。

3.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述電源開關模塊通過所述第四端口與所述數字電位計連接，通過所述第四端口獲取所述目標電壓，所述控制器將所述目標電壓轉換成所述數字電位計的寄存器值預先寫入所述數字電位計。

4.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，在所述電源開關模塊通過所述第三端口輸出所述目標電壓后，所述控制器還用于通過所述模數轉換器獲取所述采樣電阻的第二端的電壓，并比對所述采樣電阻的第二端的電壓與所述目標電壓，如果二者的差值大于預設閾值，調節所述數字電位計的阻值，直至所述差值小于所述預設閾值。

5.根據權利要求4所述的測試電路，其特征在于，在所述采樣電阻的第二端的電壓與所述目標電壓的差值小于所述預設閾值之后，所述控制器還用于設定所述待測試芯片的工作模式。

6.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述電源開關模塊還用于通過所述第四端口實時采集所述待測試芯片的輸入電壓，如果所述待測試芯片的輸入電壓發生變化，調整通過所述第三端口輸出的所述目標電壓直至所述待測試芯片的輸入電壓恢復為發生變化之前的電壓。

7.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述控制器還用于按照預設順序和/或預設時間間隔依次使能所述多個子測試電路的電源開關模塊。

8.一種芯片，其特征在于，包括權利要求1至7中任意一項所述的芯片功耗的測試電路。

9.一種芯片功耗的測試方法，其特征在于，該方法通過權利要求1至7中任意一項所述的芯片功耗的測試電路測試待測試芯片的功耗，所述方法包括：

將所述目標電壓轉換成所述數字電位計的寄存器值，并將所述寄存器值寫入所述數字電位計；

使能所述電源開關模塊；

獲取所述采樣電阻的第二端的電壓，并比對所述采樣電阻的第二端的電壓與所述目標電壓，如果二者的差值大于預設閾值，調節所述數字電位計的阻值，直至所述差值小于所述預設閾值；

采集所述采樣電阻兩端的采樣電壓，依據所述采樣電壓和所述采樣電阻的電阻值確定流入所述待測試芯片的電流，并依據所述電流確定所述待測試芯片的功耗。

10.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質包括存儲的程序，其中，在所述程序運行時控制所述存儲介質所在設備執行權利要求9所述的芯片功耗的測試方法。