[發(fā)明專利]礦石結(jié)構(gòu)的統(tǒng)計方法及其應用

在審

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• 申請日: 2020-05-28
• 公開（公告）號: CN111537513A
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發(fā)明（設計）人: 李磊;肖儀武;葉小璐;郜偉;武若晨;王明燕;金建文
• 申請（專利權(quán)）人: 礦冶科技集團有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/01
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 劉建榮

本發(fā)明提供了一種礦石結(jié)構(gòu)的統(tǒng)計方法及其應用，涉及礦物加工領域，礦石結(jié)構(gòu)的統(tǒng)計方法是以呈現(xiàn)不同礦石結(jié)構(gòu)的目的礦物的面積為基礎，計算目的礦物所呈現(xiàn)的不同礦石結(jié)構(gòu)的相對含量，包括以下步驟：a)確定一種需要進行測定礦石結(jié)構(gòu)相對含量的目的礦物的種類；b)獲取該目的礦物的至少一個截面的圖像；c)對至少一個所述圖像中的目的礦物呈現(xiàn)的礦石結(jié)構(gòu)進行劃分，獲得該目的礦物所呈現(xiàn)的n種礦石結(jié)構(gòu)；d)計算每種礦石結(jié)構(gòu)的總面積S_i，即所有呈現(xiàn)第i種結(jié)構(gòu)的目的礦物的面積之和；不同礦石結(jié)構(gòu)在礦石中的相對含量K_i為：i為自然數(shù)。該方法為回收率預測模型建立、碎磨工藝選擇及選礦工藝提供依據(jù)。

技術領域

本發(fā)明涉及礦物加工技術領域，尤其是涉及一種礦石結(jié)構(gòu)的統(tǒng)計方法及其應用。

背景技術

在礦物加工領域，礦石結(jié)構(gòu)的研究是一項重要內(nèi)容，通常需利用光片或薄片在顯微鏡下進行。礦石結(jié)構(gòu)是指礦石中礦物顆粒的特點，即礦物顆粒的結(jié)晶程度、形狀、相對大小、相互嵌布關系或礦物顆粒與礦物集合體的嵌布關系，所反映的是礦物本身的形態(tài)特征。

在不同成因類型的礦床中，目的礦物所呈現(xiàn)的礦石結(jié)構(gòu)的種類、相對含量差異較大，礦石結(jié)構(gòu)對回收率預測、碎磨工藝以及選礦工藝的選擇和優(yōu)化具有重要的意義，因此礦石結(jié)構(gòu)的定量統(tǒng)計就顯得尤為重要。然而，在目前的工作和研究過程中，礦石結(jié)構(gòu)是研究礦床成因不可或缺的手段之一，能夠查明礦物的共生關系、礦床生成的物理化學條件，更多的是注重對成巖、成礦意義進行研究，對礦石結(jié)構(gòu)的描述多是定性的。在礦物加工領域，礦石結(jié)構(gòu)對碎磨工藝及礦石的可選性有著重要的影響，也缺少礦石結(jié)構(gòu)相對含量方面的定量分析。若能實現(xiàn)目的礦物所呈現(xiàn)礦石結(jié)構(gòu)的定量表征，則能夠更直觀的了解礦石結(jié)構(gòu)對碎磨工藝及可選性的影響，對回收率預測模型的建立、礦床的評價以及工藝流程的制定和優(yōu)化都具有重要的意義。

有鑒于此，特提出本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種礦石結(jié)構(gòu)的統(tǒng)計方法，由于礦石中目的礦物所呈現(xiàn)的礦石結(jié)構(gòu)種類較多，該統(tǒng)計方法能夠定量的表征目的礦物在礦石中所呈現(xiàn)礦石結(jié)構(gòu)的相對含量，為回收率預測模型的建立、以及碎磨工藝的選擇提供依據(jù)，也能夠為選礦工藝的優(yōu)化提供依據(jù)。

本發(fā)明提供的礦石結(jié)構(gòu)的統(tǒng)計方法，是以呈現(xiàn)不同礦石結(jié)構(gòu)的目的礦物的面積為基礎，計算目的礦物所呈現(xiàn)的不同礦石結(jié)構(gòu)的相對含量，包括以下步驟：

a)確定一種需要進行測定礦石結(jié)構(gòu)相對含量的目的礦物的種類；

b)獲取該目的礦物的至少一個截面的圖像；

c)對至少一個所述圖像中的目的礦物呈現(xiàn)的礦石結(jié)構(gòu)進行劃分，獲得該目的礦物所呈現(xiàn)的n種礦石結(jié)構(gòu)；

d)計算每種礦石結(jié)構(gòu)的總面積S_i，即所有呈現(xiàn)第i種結(jié)構(gòu)的目的礦物的面積之和；不同礦石結(jié)構(gòu)在礦石中的相對含量K_i為：

其中，當n＝1時，礦石結(jié)構(gòu)在礦石中的相對含量K₁為100％，

當n為大于等于2的自然數(shù)時，i為從1至n的自然數(shù)。

進一步地，獲取目的礦物的至少一個截面的圖像包括：

將礦物制作成光片或者薄片，利用反射偏光顯微鏡或透射光顯微鏡或掃描電子顯微鏡來獲得所述圖像。

進一步地，將所述礦石磨制成光片或者薄片。

進一步地，所述目的礦物包括金屬礦物和非金屬礦物，一次只能選擇一種要測定的目的礦物。