[發明專利]礦石結構的統計方法及其應用在審
| 申請號: | 202010466495.2 | 申請日: | 2020-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN111537513A | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發明(設計)人: | 李磊;肖儀武;葉小璐;郜偉;武若晨;王明燕;金建文 | 申請(專利權)人: | 礦冶科技集團有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/84 | 分類號: | G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 劉建榮 |
| 地址: | 100000 北京市豐臺區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 礦石 結構 統計 方法 及其 應用 | ||
1.一種礦石結構的統計方法,是以呈現不同礦石結構的目的礦物的面積為基礎,計算目的礦物所呈現的不同礦石結構的相對含量,其特征在于,包括以下步驟:
a)確定一種需要進行測定礦石結構相對含量的目的礦物的種類;
b)獲取該目的礦物的至少一個截面的圖像;
c)對至少一個所述圖像中的目的礦物呈現的礦石結構進行劃分,獲得該目的礦物所呈現的n種礦石結構;
d)計算每種礦石結構的總面積Si,即所有呈現第i種結構的目的礦物的面積之和;不同礦石結構在礦石中的相對含量Ki為:
其中,當n=1時,礦石結構在礦石中的相對含量K1為100%,
當n為大于等于2的自然數時,i為從1至n的自然數。
2.根據權利要求1所述的統計方法,其特征在于,獲取目的礦物的至少一個截面的圖像包括:
將礦石制作成光片或者薄片,利用反射偏光顯微鏡或透射光顯微鏡或掃描電子顯微鏡來獲得所述圖像。
3.根據權利要求2所述的統計方法,其特征在于,將礦石磨制成光片或者薄片。
4.根據權利要求1-3任一項所述的統計方法,其特征在于,所述目的礦物包括金屬礦物和非金屬礦物,一次只能選擇一種要測定的目的礦物。
5.根據權利要求4所述的統計方法,其特征在于,所述目的礦物所呈現的礦石結構包括自形-半自形晶結構、他形晶結構、包含結構、斑狀構造、浸蝕結構、交代殘余結構、鑲邊結構、骸晶結構、乳濁狀結構、格狀結構、文象結構、葉片狀結構、包含變晶結構、放射狀變晶結構、碎屑結構、草莓結構、生物結構、壓碎結構和定向變晶結構中的至少一種。
6.一種權利要求1-5任一項所述的統計方法在回收率預測及碎磨工藝中的應用。
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