[發明專利]動態光場有效空間相干分布的測量方法及測量系統

有效

• 申請號: 202010450757.6
• 申請日: 2020-05-25
• 公開（公告）號: CN111537088B
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發明（設計）人: 陳亞紅;王飛;蔡陽健
• 申請（專利權）人: 蘇州大學
• 主分類號: G01J9/00
• 分類號: G01J9/00;G01J1/42
• 代理公司: 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257
• 代理人: 王玉仙

1.一種動態光場有效空間相干分布的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、在待測動態光場的一側依次設置傅里葉變換透鏡和光探測器，所述傅里葉變換透鏡的焦距為f,所述傅里葉變換透鏡與待測光場的光源距離為f，所述傅里葉變換透鏡與光探測器的距離為f；所述光探測器采集待測動態光場經過傅里葉變換透鏡聚焦后的焦點處的光譜密度分布I(ρ)；

S2、將S1中的傅里葉變換透鏡替換為成像透鏡，所述光探測器測試獲得待測動態光場的光強分布I(r)；

S3、計算獲得待測動態光場的相干分布其中，λ為待測動態光場的波長，為的傅里葉變換。

2.如權利要求1所述的動態光場有效空間相干分布的測量方法，其特征在于，所述成像透鏡的焦距為f/2。

3.如權利要求1所述的動態光場有效空間相干分布的測量方法，其特征在于，所述光探測器為CCD。

4.如權利要求1所述的動態光場有效空間相干分布的測量方法，其特征在于，所述光探測器為CMOS。

5.一種動態光場有效空間相干分布的測試光路，其特征在于，基于權利要求1-4任一項所述的動態光場有效空間相干分布的測量方法。

6.一種動態光場有效空間相干分布的測量系統，基于權利要求1-5任一項所述的動態光場有效空間相干分布的測量方法，其特征在于，包括數據獲取模塊，所述數據獲取模塊存儲第一數據集和第二數據集，所述第一數據集為待測動態光場經過傅里葉變換透鏡聚焦后的焦點處的光譜密度分布I(ρ)，所述第二數據集為動態光場在光源處的光強分布I(r)。

7.如權利要求6所述的動態光場有效空間相干分布的測量系統，其特征在于，還包括數據運算模塊，所述數據運算模塊存儲S3中的運算公式。