[發(fā)明專利]觸控母板及觸控面板制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010445262.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-05-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111610889A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李艷強(qiáng);許建勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南昌歐菲顯示科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F3/041 | 分類號(hào): | G06F3/041;G01R31/28 |
| 代理公司: | 廣州德科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44381 | 代理人: | 萬(wàn)振雄;林玉旋 |
| 地址: | 330000 江*** | 國(guó)省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 母板 面板 制造 方法 | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N觸控母板及觸控面板制造方法。觸控母板包括觸摸產(chǎn)品區(qū)域及無(wú)效區(qū)域。觸控產(chǎn)品區(qū)域設(shè)置有多條觸控線路及多條導(dǎo)電線路,觸控線路連接導(dǎo)電線路。無(wú)效區(qū)域位于觸控產(chǎn)品區(qū)域外圍,無(wú)效區(qū)域設(shè)置有多條測(cè)試線路及多個(gè)測(cè)試端子,測(cè)試線路的一端連接導(dǎo)電線路,測(cè)試線路的另一端連接測(cè)試端子。所述觸控母板及觸控面板制造方法可提高制程良率、生產(chǎn)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及觸控技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種觸控母板及觸控面板制造方法。
背景技術(shù)
隨著信息技術(shù)和電子技術(shù)的發(fā)展,各種電子設(shè)備(例如:手機(jī)、平板等)已經(jīng)逐漸普及,并深受廣大消費(fèi)者特別是年輕消費(fèi)者的喜愛(ài),目前各式電子設(shè)備基本上均已配備觸控功能,具有觸控所需要的觸控面板。
如圖1所示,在觸控面板的制造過(guò)程中,為降低成本及提高效率,通常在大尺寸的觸控母板10上采用同道光罩一并制作多個(gè)觸控產(chǎn)品區(qū)域12的觸控線路122、導(dǎo)電線路124等。在觸控線路與導(dǎo)電線路制作完成后,對(duì)觸控產(chǎn)品區(qū)域12進(jìn)行切割以獲得如圖2所示的觸控面板120,并進(jìn)一步對(duì)觸控面板120進(jìn)行測(cè)試以判斷觸控面板的性能是否符合要求。
然而,在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過(guò)程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn),在觸控產(chǎn)品區(qū)域12切割完成后進(jìn)行測(cè)試并發(fā)現(xiàn)觸控線路122與導(dǎo)電線路124的制程不良時(shí),不僅降低良率,還導(dǎo)致制造過(guò)程存在無(wú)效益的切割步驟,影響生產(chǎn)效率。特別是由于觸摸母板10上具有多個(gè)觸摸產(chǎn)品區(qū)域12,且觸控線路122與導(dǎo)電線路124的寬幅、材料也不相同,若制程不良未能盡早監(jiān)控,將大大影響生產(chǎn)效率。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于此,有必要提供一種可提高制程良率或生產(chǎn)效率的觸控母板及觸控面板制造方法。
第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種觸控母板,所述觸控母板包括觸控產(chǎn)品區(qū)域及無(wú)效區(qū)域。所述觸控產(chǎn)品區(qū)域設(shè)置有多條觸控線路及多條導(dǎo)電線路,所述觸控線路連接所述導(dǎo)電線路;所述無(wú)效區(qū)域位于所述觸控產(chǎn)品區(qū)域外圍,所述無(wú)效區(qū)域設(shè)置有多條測(cè)試線路及多個(gè)測(cè)試端子,所述測(cè)試線路的一端連接所述導(dǎo)電線路,所述測(cè)試線路的另一端連接所述測(cè)試端子。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的觸控母板中,位于觸控產(chǎn)品區(qū)域外圍的無(wú)效區(qū)域具有多條測(cè)試線路及多個(gè)測(cè)試端子,通過(guò)多個(gè)測(cè)試端子與多條測(cè)試線路可以向觸控產(chǎn)品區(qū)域的導(dǎo)電線路與觸控線路提供測(cè)試信號(hào),從而可在切割前對(duì)觸控產(chǎn)品區(qū)域進(jìn)行測(cè)試,若經(jīng)過(guò)測(cè)試發(fā)現(xiàn)觸控產(chǎn)品區(qū)域存在制程不良,可馬上進(jìn)行修補(bǔ)以提高制程良率,或針對(duì)無(wú)法修補(bǔ)的觸控母板可以放棄切割,進(jìn)而提高生產(chǎn)效率。此外,由于測(cè)試線路及測(cè)試端子設(shè)置在無(wú)效區(qū)域,而無(wú)效區(qū)域有足夠的面積設(shè)置較大的測(cè)試端子并集中測(cè)試,進(jìn)而可以提高測(cè)試的可靠性及效率。
在其中的一個(gè)實(shí)施例中,所述導(dǎo)電線路包括第一引線部及第一接線端子,所述第一引線部連接于所述觸控線路與所述第一接線端子之間,所述第一接線端子還連接所述測(cè)試線路;所述測(cè)試線路包括第二引線部及第二接線端子,所述第二引線部連接于所述測(cè)試端子與所述第二接線端子之間,所述第二接線端子連接所述第一接線端子。通過(guò)第一接線端子與第二接線端子的端子之間的對(duì)接,可保證端子之間的穩(wěn)靠連接,提高測(cè)試的可靠性。
在其中的一個(gè)實(shí)施例中,所述觸控產(chǎn)品區(qū)域的數(shù)量為多個(gè),所述多個(gè)觸控產(chǎn)品區(qū)域呈矩陣排列,所述無(wú)效區(qū)域位于所述多個(gè)觸控產(chǎn)品區(qū)域之間及外圍;所述多條測(cè)試線路及所述多個(gè)測(cè)試端子劃分為與多個(gè)所述觸控產(chǎn)品區(qū)域?qū)?yīng)的多組,每組均包括多條測(cè)試線路及多個(gè)測(cè)試端子,每組的所述測(cè)試端子經(jīng)由所述測(cè)試線路與對(duì)應(yīng)的所述觸控產(chǎn)品區(qū)域的導(dǎo)電線路連接。由于觸摸母板具有多個(gè)觸控產(chǎn)品區(qū)域,進(jìn)而可采用同道光罩一并制作多個(gè)觸控產(chǎn)品區(qū)域的觸控線路、導(dǎo)電線路,使得成本降低及生產(chǎn)效率提高。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
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