[發(fā)明專利]缺陷映射方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010437360.3
• 申請(qǐng)日: 2020-05-21
• 公開（公告）號(hào): CN111339220B
• 公開（公告）日: 2020-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 彭其棟;張孟;王四平;周凱;龐鳳江;王雙橋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳新視智科技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F16/28
• 分類號(hào): G06F16/28
• 代理公司: 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 宋鵬躍

1.一種缺陷映射方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟S1：對(duì)mysql數(shù)據(jù)庫(kù)的版本進(jìn)行檢測(cè)；

步驟S2：利用版本符合的mysql數(shù)據(jù)庫(kù)創(chuàng)建用于存儲(chǔ)缺陷數(shù)據(jù)的內(nèi)存表，所述內(nèi)存表包含缺陷數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)位置的坐標(biāo)信息；

步驟S3：對(duì)與缺陷數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的字段創(chuàng)建索引；

步驟S4：將包含明場(chǎng)缺陷及暗場(chǎng)缺陷的缺陷數(shù)據(jù)存入內(nèi)存表中；

步驟S5：確定明場(chǎng)缺陷與暗場(chǎng)缺陷中缺陷之間距離；

步驟S6：根據(jù)距離判斷缺陷是否處于同一位置；

步驟S7：對(duì)處于同一位置的兩個(gè)缺陷做缺陷映射。

2.如權(quán)利要求1所述的缺陷映射方法，其特征在于：所述步驟S1包括如下步驟：

步驟S11：檢測(cè)mysql數(shù)據(jù)庫(kù)的版本為5.7及以上版本，認(rèn)定為版本符合的mysql數(shù)據(jù)庫(kù)；

步驟S12：檢測(cè)mysql數(shù)據(jù)庫(kù)的版本為5.7以下的版本，認(rèn)定為版本不符的mysql數(shù)據(jù)庫(kù)。

3.如權(quán)利要求2所述的缺陷映射方法，其特征在于：所述步驟S12包括如下步驟：

步驟S121:對(duì)認(rèn)定為版本不符的mysql數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行版本更新，使mysql數(shù)據(jù)庫(kù)的版本升級(jí)到5.7及以上版本。

4.如權(quán)利要求1所述的缺陷映射方法，其特征在于：步驟S5包括如下步驟：

步驟S51：對(duì)包含明場(chǎng)缺陷與暗場(chǎng)缺陷的缺陷數(shù)據(jù)做交叉連接；

步驟S52：通過mysql數(shù)據(jù)庫(kù)中求距離的函數(shù)st_distance確定明場(chǎng)缺陷與暗場(chǎng)缺陷中缺陷之間的距離。

5.如權(quán)利要求1所述的缺陷映射方法，其特征在于：步驟S6還包括如下步驟：

步驟S61：判斷為處于同一位置，對(duì)缺陷進(jìn)行映射生成新缺陷；

步驟S62：判斷為不處于同一位置，則結(jié)束。