[發明專利]一種回轉體薄壁零件小圓孔相對角度檢測方法

有效

• 申請號: 202010432973.8
• 申請日: 2020-05-21
• 公開（公告）號: CN111536929B
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 何艷玲;祝小超;邸太龍;李倩;王彬彬;李國通;尚謙
• 申請（專利權）人: 中國第一汽車股份有限公司
• 主分類號: G01B21/24
• 分類號: G01B21/24
• 代理公司: 長春吉大專利代理有限責任公司 22201
• 代理人: 杜森垚

1.一種回轉體薄壁零件小圓孔相對角度檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一、測量基準調整：將回轉體薄壁零件垂直擺放在測量臺上，被測小孔軸心在測量設備X軸方向，測桿探入被測小孔并與被測小孔同心，此時被測小孔的法向和測量設備X軸一致；

步驟二、建立第一理論平面：將基準圓柱A中心軸向作為參考方向，建立一個法向為1,0,0的理論平面F，作為小孔C的垂直參考平面；

步驟三、建立第一坐標系：按照圖紙要求，回轉體零件在其徑向方向投影上與基準圓柱A的基準徑向中心線之間有個初始角度，找到這個角度對應的小孔C；小孔C作為空間圓進行測量，提取空間圓的圓心點；步驟二中所做出的理論平面F即為小孔C的測量參考；將回轉體零件的頂面B作為第一軸向Z方向約束平面，將基準圓柱A以及小孔C提取的空間圓圓心點共同投影到所述第一軸向Z方向約束平面上，基準圓柱A投影的圓心與小孔C的圓心點兩點連線，做第二軸向約束，第一個坐標系建立完成；

步驟四、建立第二坐標系：按照圖紙標注的初始角度進行坐標系旋轉，得到第二個坐標系；

步驟五、建立其他理論平面：依次按照圖紙要求進行坐標系旋轉，依次得到與各待測小孔對應的理論平面；

步驟六、測量評價。

2.如權利要求1所述的一種回轉體薄壁零件小圓孔相對角度檢測方法，其特征在于，所述步驟一的具體過程為：

回轉體薄壁零件擺放在測量臺上，使回轉體薄壁零件的回轉軸線，即基準圓柱A的中心軸線垂直于測量臺XY平面擺放，首先使測桿和測量設備X軸方向一致，調整回轉體薄壁零件角度，使小孔C軸心在測量設備X軸方向，將直徑小于被測孔直徑的測桿探入小孔C進行找正，使小孔C和測桿同心，此時小孔C的法向和測量設備X軸一致，調整完畢進行零件定位夾緊。

3.如權利要求1所述的一種回轉體薄壁零件小圓孔相對角度檢測方法，其特征在于，所述步驟六的具體過程為：

按照圖紙理論角度分別進行坐標系旋轉并逐一調整相應測桿測頭角度后，測量其余小孔的空間圓并提取圓心點，參照平面分別為坐標系旋轉后得到的相對應理論平面，將所有圓心點均垂直投影到所述頂面B上，消除Z值后分別與圓心連線，得到若干條線段，按圖紙要求評價線段間的角度即可。