[發明專利]一種膠黏劑粘接面粘接狀態快速識別方法

在審

• 申請號: 202010429995.9
• 申請日: 2020-05-20
• 公開（公告）號: CN111735415A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 何廣洲;曹建強
• 申請（專利權）人: 迪馬新材料科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01B15/00
• 分類號: G01B15/00;G01B15/02;G01N23/18
• 代理公司: 蘇州智品專利代理事務所(普通合伙) 32345
• 代理人: 王利斌

本發明公開了一種膠黏劑粘接面粘接狀態快速識別方法，包括以下步驟，S1)將顯示材料均勻的分散于膠黏劑中，并將二者混合物涂覆于基材的粘接面處使其粘合，顯示材料形成X?Y離子鍵結構，其中Y為陰離子酸根形態，X為原子序數大于等于12的金屬離子形態，顯示材料的密度ρ≥1.5g/cm³，且該顯示材料密度與基材密度之差大于等于0.5g/cm³；S2)對粘合后的基材進行施壓，并靜置；S3)將粘合后的基材通過X射線儀照射粘接面，以數據形式在顯示儀器上顯示粘結面攤開程度和粘接厚度。本發明無需將粘接基材破壞，可通過X射線儀識別顯示材料從而快速檢測粘接面的攤開面積和粘接厚度，檢測效率高，檢測精度準，且可全部樣品檢測，不再出現漏檢問題。

技術領域

本發明涉及膠黏劑應用技術領域，尤其涉及一種膠黏劑粘接面粘接狀態快速識別方法。

背景技術

膠黏劑已經在生產、生活、組裝、建造等各個領域發揮粘接作用。粘接性能的好壞通常遵照相應檢驗標準進行測試評估，測試合格后才開始投入，并在實際應用過程中進行抽檢，隨時觀察粘接強度的變化，判斷是否合格。由于抽樣的隨即性、不穩定性，不可避免的就會造成了不良產品的漏檢現象，漏檢輕則質量問題、重則安全事故。

我們分析了膠黏劑粘接性能不良的可能原因：一是膠黏劑品質問題，膠黏劑產品在出廠前和客戶收貨后大多數會做出檢驗，可排除膠黏劑品質造成的不良問題。二是施工過程易出問題，如：施膠后，未在操作時間內進行有效壓合，導致膠體凝膠或者固化，導致粘接不良；另外，在操作時間內，施加的壓力不夠，膠體沒能夠均勻鋪展開，膠層未達到理想寬度、厚度等，造成有效粘接面積不足，粘接強度低于合格數值，產出不良品。而膠體在被粘接基材之間是何種分布狀態，我們是無法通過肉眼識別的。通常通過破壞粘接基材識別粘接面情況，而破壞的基材無法再使用，造成損失。在不破壞基材的基礎上，對粘接面情況進行識別，目前市面上還沒有這樣一種方法。為此，建立起一種快速識別粘接面狀態的方法已顯得非常必要。

發明內容

本發明的目的在于提供一種膠黏劑粘接面粘接狀態快速識別方法，無需將粘接基材破壞，可通過X射線儀識別顯示材料從而快速檢測粘接面的攤開面積和粘接厚度，檢測效率高，檢測精度準，且可全部樣品檢測，不再出現漏檢問題。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案是：一種膠黏劑粘接面粘接狀態快速識別方法，包括以下步驟，

S1)將顯示材料均勻的分散于膠黏劑中，并將二者混合物涂覆于基材的粘接面處使其粘合，所述顯示材料形成X-Y離子鍵結構，其中Y為陰離子酸根形態，X為原子序數大于等于12的金屬離子形態，所述顯示材料的密度ρ≥1.5g/cm³，且該顯示材料密度與所述基材密度之差大于等于0.5g/cm³；

S2)對粘合后的基材進行施壓，并靜置；

S3)將粘合后的基材通過X射線儀照射粘接面，以數據形式在顯示儀器上顯示粘結面攤開程度和粘接厚度，顯示材料密度與基材密度差必須大于等于1.5g/cm³，X射線照射后才能夠顯現出粘接面的圖像數據，密度差越大，圖像越清晰。

作為進一步的優化，所述Y為磷酸根、硫酸根、碳酸根或硝酸根中的一種；所述X為鋇離子、鎂離子或鈣離子中的一種。

作為進一步的優化，所述顯示材料形態為液態或固態，其均勻的分布于粘接面中，通過酸根離子與金屬離子結合形成固態或液態的顆粒，可被X射線探測。

作為進一步的優化，所述顯示材料中形成的X-Y離子鍵結構顆粒的粒徑為0.02-1000μm。

作為進一步的優化，所述顯示材料與所述膠黏劑的體積比或重量比大于0.05%。

作為進一步的優化，所述S3中還包括設置粘接面標準粘接狀態數據，與測量數據實現對比。