[發明專利]測定裝置、圖像形成裝置及測定方法在審
| 申請號: | 202010429551.5 | 申請日: | 2020-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN111998781A | 公開(公告)日: | 2020-11-27 |
| 發明(設計)人: | 尾上太郎 | 申請(專利權)人: | 柯尼卡美能達株式會社 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02;G01B11/14;G01B11/24;G03G15/00;G03G15/02 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生輝 |
| 地址: | 日本國東京都*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測定 裝置 圖像 形成 方法 | ||
1.一種測定裝置,對第1測定對象物與第2測定對象物的間隙進行測定,其特征在于,具備:
表面形狀計算部,基于從向所述第1測定對象物照射激光的第1線傳感器取得的第1測定數據,計算所述第1測定對象物的表面形狀,并基于從向所述第2測定對象物照射激光的第2線傳感器取得的第2測定數據,計算所述第2測定對象物的表面形狀;
變換部,對所述第1線傳感器的第1坐標系及所述第2線傳感器的第2坐標系中的至少1個進行變換,使坐標系統一;以及
間隙計算部,在所述統一后的坐標系中,計算所述第1測定對象物與所述第2測定對象物的間隙。
2.如權利要求1所述的測定裝置,其特征在于,
所述第1測定數據是表示被從所述第1線傳感器照射了帶狀的所述激光的、所述第1測定對象物的表面部分的形狀的2維坐標的數據,
所述第2測定數據是表示被從所述第2線傳感器照射了帶狀的所述激光的、所述第2測定對象物的表面部分的形狀的2維坐標的數據。
3.如權利要求1或者權利要求2所述的測定裝置,其特征在于,
使用將所述第1線傳感器及所述第2線傳感器以能夠移動的方式保持的裝配用夾具,所述表面形狀計算部多次計算所述第1測定對象物的表面形狀,多次計算所述第2測定對象物的表面形狀。
4.如權利要求1至權利要求3中任一項所述的測定裝置,其特征在于,
所述第1測定對象物具有圓筒表面形狀,所述第2測定對象物具有圓筒表面形狀。
5.如權利要求4所述的測定裝置,其特征在于,還具備:
擬合部,針對所述第1測定對象物所具有的圓筒表面形狀,通過基于非線性最小二乘法的擬合來計算第1圓截面,針對所述第2測定對象物所具有的圓筒表面形狀,通過基于所述非線性最小二乘法的擬合來計算第2圓截面。
6.如權利要求5所述的測定裝置,其特征在于,
所述變換部使用事先測定的所述第1線傳感器的第1坐標系與所述第2線傳感器的第2坐標系的相對的位置關系,將所述第1圓截面及所述第2圓截面配置于所述統一后的坐標系。
7.如權利要求6所述的測定裝置,其特征在于,
所述間隙計算部從所述第1圓截面的中心與所述第2圓截面的中心間距離減去所述第1圓截面的第1半徑及所述第2圓截面的第2半徑,來計算所述第1測定對象物與所述第2測定對象物的間隙。
8.如權利要求7所述的測定裝置,其特征在于,
所述第1半徑及所述第2半徑是已知的,
所述擬合部使用所述第1半徑及所述第2半徑,進行基于所述非線性最小二乘法的擬合。
9.如權利要求1至權利要求8中任一項所述的測定裝置,其特征在于,
所述第1測定對象物是用于圖像形成裝置的第1顯影輥,所述第2測定對象物是用于所述圖像形成裝置的感光體。
10.如權利要求9所述的測定裝置,其特征在于,
作為第3測定對象物,是用于所述圖像形成裝置的第2顯影輥,
不僅使用向作為所述第1測定對象物的所述第1顯影輥照射激光的所述第1線傳感器、以及向作為所述第2測定對象物的所述感光體照射激光的所述第2線傳感器,還使用向作為所述第2測定對象物的所述感光體照射激光的第3線傳感器、以及向作為所述第3測定對象物的所述第2顯影輥照射激光的第4線傳感器,對所述感光體與所述第1顯影輥的間隙及所述感光體與所述第2顯影輥的間隙進行測定。
11.一種圖像形成裝置,
通過權利要求10所述的測定裝置,所述感光體與所述第1顯影輥的間隙及所述感光體與所述第2顯影輥的間隙被測定并調整。
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