[發明專利]一種多激光頭燒蝕集成控制系統及方法在審
| 申請號: | 202010418118.1 | 申請日: | 2020-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN111774732A | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發明(設計)人: | 王春明;王軍;但成林;張威 | 申請(專利權)人: | 武漢翔明激光科技有限公司 |
| 主分類號: | B23K26/36 | 分類號: | B23K26/36;B23K26/064;G21F9/00 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人: | 杜陽陽 |
| 地址: | 430205 湖北省武漢市東湖新技術*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 激光頭 集成 控制系統 方法 | ||
1.一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,包括:
n個激光頭模塊,用于發射光斑,n為大于1的正整數;
控制器,與各所述激光頭模塊連接,用于根據待處理物數據信息生成工作參數,根據所述工作參數生成第一控制指令,并根據所述第一控制指令控制各所述激光頭模塊發射所述光斑。
2.根據權利要求1所述的一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,所述激光頭模塊包括:激光器、隔離頭、反射鏡、X掃描鏡、X振鏡、Y掃描鏡、Y振鏡和場鏡;
所述激光器、所述隔離頭、所述X掃描鏡、所述Y掃描鏡均與所述控制器內連接;
所述反射鏡與所述隔離頭相對設置;
所述Y振鏡與所述反射鏡相對設置;
所述X振鏡與所述Y振鏡相對設置;
所述場鏡與所述X振鏡相對設置;
所述控制器控制所述激光器發射激光,所述激光經過所述隔離頭生成點光斑,所述點光斑經過所述Y掃描鏡和所述X掃描鏡生成面光斑,所述面光斑經過所述場鏡生成線光斑,通過所述線光斑對待處理物進行燒蝕去污,所述線光斑即為所述光斑。
3.根據權利要求2所述的一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,所述系統還包括:
煙塵凈化器,與所述控制器連接,且通過管路作用于待處理物;
所述控制器控制所述煙塵凈化器對顆粒殘渣進行凈化處理,所述顆粒殘渣為所述線光斑對待處理物進行燒蝕去污時產生的。
4.根據權利要求2所述的一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,所述系統還包括:
冷卻模塊,分別與所述控制器和各所述激光頭模塊連接,用于在各所述激光頭模塊的溫度超過溫度設定值時對各所述激光頭模塊進行降溫。
5.根據權利要求4所述的一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,所述冷卻模塊包括:
溫度傳感器單元,分別與所述激光器、所述隔離頭、所述反射鏡、所述X掃描鏡、所述X振鏡、所述Y掃描鏡、所述Y振鏡和所述場鏡相對設置,且與所述控制器連接,用于檢測所述激光器、所述隔離頭、所述反射鏡、所述X掃描鏡、所述X振鏡、所述Y掃描鏡、所述Y振鏡和所述場鏡的溫度并生成溫度信息發送給所述控制器,所述控制器判斷所述溫度信息是否大于或等于所述溫度設定值,若是,所述控制器生成第二控制指令,若否,則不處理;
制冷單元,與所述控制器連接,且通過管路分別與所述激光器、所述隔離頭、所述反射鏡、所述X掃描鏡、所述X振鏡、所述Y掃描鏡、所述Y振鏡和所述場鏡相對設置,用于根據所述第二控制指令對所述激光器、所述隔離頭、所述反射鏡、所述X掃描鏡、所述X振鏡、所述Y掃描鏡、所述Y振鏡和所述場鏡進行循環冷卻降溫,直至所述溫度信息小于所述溫度設定值。
6.根據權利要求2所述的一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,所述激光器為百納秒級光纖脈沖激光器。
7.根據權利要求1所述的一種多激光頭燒蝕集成控制系統,其特征在于,所述系統還包括:
信息采集模塊,與所述控制器連接,用于獲取所述待處理物數據信息并發送給所述控制器。
8.一種多激光頭燒蝕集成控制方法,其特征在于,所述方法應用于權利要求1-7任意一項所述的系統,所述方法包括:
步驟S1,控制器獲取待處理物數據信息;
步驟S2,所述控制器根據所述待處理物數據信息生成工作參數;
步驟S3,所述控制器根據所述工作參數生成第一控制指令,并根據所述第一控制指令控制各所述激光頭模塊生成線光斑,以使利用所述線光斑對待處理物進行燒蝕去污;
步驟S4,控制器獲取新的待處理物數據信息,根據所述新的待處理物數據信息確定待處理物的去污結果,并判斷待處理物的去污結果是否達到設定去污標準,若否,則應用所述新的待處理物數據信息替換所述待處理物數據信息并返回至步驟S2;若是,則去污結束。
9.根據權利要求8所述的一種多激光頭燒蝕集成控制方法,其特征在于,在所述步驟S1之前還包括:
根據場鏡的焦距設置各所述激光頭模塊與待處理物的位置關系,以使根據所述位置關系對應放置各所述激光頭模塊與待處理物。
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