[發明專利]一種透明平板缺陷和屈光度變化檢測系統及方法

有效

• 申請號: 202010417933.6
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN111579564B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 羅北;廖金炯;朱劍文
• 申請（專利權）人: 深圳市中鈔科信金融科技有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市興科達知識產權代理有限公司 44260
• 代理人: 張德興

本發明公開了一種透明平板缺陷及屈光度變化檢測系統，包括亮場通道梯度光源、暗場通道光源、莫爾條紋光源及攝像裝置；亮場通道梯度光源照射透明平板，攝像裝置采集第一圖像，所述第一圖像檢測透明平板內部缺陷和表面缺陷；暗場通道光源照射透明平板，攝像裝置采集第二圖像，并結合第一圖像，檢測出透明平板表面缺陷；莫爾條紋光源照射所述透明平板，攝像裝置采集第三圖像，根據第三圖像中的莫爾條紋的變形程度推算透明平板的屈光度變化。本發明還公開了相應的檢測方法。本檢測系統和檢測方法，能夠檢測透明平板的表面缺陷、內部缺陷和屈光度變化，檢測結果準確，精度高，而且成本低廉。

技術領域

本發明屬于物體缺陷及屈光度變化檢測領域，具體涉及到一種透明平板缺陷和屈光度變化檢測系統及方法。

背景技術

專利申請2018102203390公布了一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置及方法，裝置包括：檢測臺，用于承載待檢測的透明平板；檢測臺固定連接有照明裝置、且兩個照明裝置分別位于檢測臺的相鄰兩側；照明裝置發射出的線性光源平行于透明平板，并穿過透明平板；在檢測臺的上方設置有圖像采集裝置，用于向下采集透明平板在通過照明裝置的二維側向照光之后的圖像。方法包括：根據缺陷處的折射率與透明平板的折射率不同而產生全反射或折射，在圖像處理階段根據灰度值的變化梯度來確定缺陷的存在，由機器視覺技術進行快速高效處理判別。但是，此專利申請涉及到的裝置和方法比較復雜，檢測精度比較低。

發明內容

本發明提供了一種透明平板缺陷和屈光度變化檢測裝置，其目的在于簡化透明平板缺陷和屈光度變化檢測裝置，提高透明平板的缺陷和屈光度變化檢測精度。

本發明是這樣的：

一種透明平板缺陷及屈光度變化檢測系統，包括亮場通道梯度光源、暗場通道光源、莫爾條紋光源及攝像裝置；所述亮場通道梯度光源照射透明平板，所述攝像裝置采集第一圖像，根據所述第一圖像檢測所述透明平板內部缺陷和表面缺陷；所述暗場通道光源照射透明平板，所述攝像裝置采集第二圖像，并結合所述第一圖像，檢測出所述透明平板表面缺陷；所述莫爾條紋光源照射所述透明平板，所述攝像裝置采集第三圖像，根據所述第三圖像中的莫爾條紋的變形程度推算所述透明平板的屈光度變化。

進一步地：所述亮場通道梯度光源內設置有一片陰陽膜；所述亮場通道梯度光源和所述攝像裝置成反射角位置布置；當所述亮場通道梯度光源發出的入射光照射到所述透明平板時并經所述透明平板反射時，反射光進入所述攝像裝置，攝像裝置里拍攝到的所述第一圖像呈現為亮場，同時所述攝像裝置聚焦的所述亮場通道梯度光源投影到所述透明平板表面的黑白交界處：若所述平板表面是均勻的，則所述第一圖像也是均勻的；若所述平板內部有缺陷，所述第一圖像會呈現以內核為中心的一黑一白的蝴蝶斑。

進一步地：當所述亮場梯度光源以一定角度入射所述透明平板，若所述第一圖像出現有疊影，則表面缺陷在所述透明平板的入射光那一面；若所述第一圖像沒有疊影，則表面缺陷在所述透明平板的和入射光相對的另一面；

進一步地：所述暗場通道光源和所述攝像裝置成大角度夾角；若所述第二圖像是黑色，則表明所述透明平板內部無缺陷。

進一步地：所述莫爾條紋光源內部設置有兩張黑白光柵膜，若所述透明平板的屈光度發生變化，則所述莫爾條紋會發生變形。

本發明還公布了一種透明平板缺陷及屈光度變化檢測方法，包括如下步驟：

步驟1：用亮場通道梯度光源照射透明平板，用攝像裝置采集第一圖像，根據所述第一圖像檢測出所述透明平板內部缺陷和表面缺陷；

步驟2：用暗場通道光源照射所述透明平板，用所述攝像裝置采集第二圖像；根據所述第二圖像并結合所述第一圖像，檢測出所述透明平板表面缺陷；

步驟3：用莫爾條紋光源照射所述透明平板，用所述攝像裝置采集第三圖像，根據所述第三圖像中的莫爾條紋的變形程度推算所述透明平板的屈光度變化。