[發明專利]用于模擬低溫壓差環境的隔聲測試的測試系統及隔聲測試方法

有效

• 申請號: 202010378601.1
• 申請日: 2020-05-07
• 公開（公告）號: CN111572811B
• 公開（公告）日: 2023-02-14
• 發明（設計）人: 胡瑩;李晨曦;孟慶功;趙華勇;張鵬飛;冉勍
• 申請（專利權）人: 中國商用飛機有限責任公司;中國商用飛機有限責任公司上海飛機設計研究院
• 主分類號: B64F5/60
• 分類號: B64F5/60
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 易詠梅;李立行

1.一種用于模擬低溫壓差環境的隔聲測試的測試系統，所述測試系統包括混響室，所述混響室開設有用于安裝待測結構件的安裝開口，其特征在于，所述測試系統還包括低溫壓差箱，所述低溫壓差箱包括：

一端開口的箱體，所述箱體的開口與所述安裝開口相適配，從而能夠經由所述安裝開口和所述待測結構件相連；

位于所述箱體內的揚聲器陣列，所述揚聲器陣列被配置為能夠形成測試聲場，所述揚聲器陣列包括彼此獨立的多個揚聲器陣元；

位于所述箱體內的傳聲器陣列，所述傳聲器陣列被配置為能夠測量所述箱體內多個位置的聲壓，所述傳聲器陣列包括彼此獨立的多個傳聲器陣元；

溫度控制模塊，所述溫度控制模塊被配置為能夠調節所述箱體內的溫度；

氣壓控制模塊，所述氣壓控制模塊被配置為能夠調節所述箱體內的氣壓；

其中，所述揚聲器陣元的數量由式（1）限定

（1），

式（1）中，n_spk為所述揚聲器陣元的數量，S為所述待測結構件的測試面的表面積或者所述安裝開口的面積，c為聲速，為所述隔聲測試選取的測試頻率的上限值。

2.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括：

多通道輸入輸出控制模塊，所述多通道輸入輸出控制模塊被配置為能夠采集所述多個傳聲器陣元測得的聲壓信號，并根據所述聲壓信號生成多路原始聲信號；

多通道功率放大模塊，所述多通道功率放大模塊包括多個功率放大器，所述多個功率放大器的輸出端分別連接至所述多個揚聲器陣元、輸入端則連接至所述多通道輸入輸出控制模塊，所述多個功率放大器被配置為能夠分別接收所述多路原始聲信號并將其放大后傳輸至所述多個揚聲器陣元。

3.如權利要求2所述的測試系統，其特征在于，所述多路原始聲信號為非相干的噪聲信號。

4.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述傳聲器陣元沿所述箱體的開口的邊緣分散布置為一列。

5.如權利要求4所述的測試系統，其特征在于，所述揚聲器陣列面向所述傳聲器陣元地布置于所述箱體內與所述箱體的開口相對的一側。

6.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述傳聲器陣列還包括承載所述傳聲器陣元的可調支架，所述測試系統還包括位于所述箱體外部的外部陣元控制器，所述外部陣元控制器被配置為能夠調節所述傳聲器陣元的位置和/或朝向。

7.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括透射聲接收室，所述透射聲接收室開設有與所述待測結構件相適配的測試開口。

8.一種采用如權利要求1-7中任意一項所述的用于模擬低溫壓差環境的隔聲測試的測試系統的隔聲測試方法，其中，所述隔聲測試方法包括：

將待測結構件安裝至所述混響室的所述安裝開口；

將所述低溫壓差箱的箱體的開口對準并貼緊所述待測結構件的表面；

通過所述溫度控制模塊和所述氣壓控制模塊將所述箱體內的溫度和氣壓調節至測試所需溫度和所需氣壓；

根據所述傳聲器陣列測得的所述箱體內多個位置的聲壓調節所述揚聲器陣列輸出形成的測試聲場，以使得所述測試聲場滿足預設的擴散聲場信號要求；

采集透射穿過所述待測結構件的透射聲信號，并根據所述傳聲器陣列測得的所述聲壓和所述透射聲信號計算隔聲量。

9.如權利要求8所述的隔聲測試方法，其特征在于，所述隔聲測試方法還包括：

根據所述低溫壓差箱的箱體的開口所對準的所述待測結構件的表面的表面形狀，調節所述傳聲器陣列所包含的多個傳聲器陣元的位置，使得所述傳聲器陣元沿所述箱體的開口的邊緣分散布置為一列，并且該列傳聲器陣元中的每一個與所述待測結構件的表面的間距基本相等。

10.如權利要求8所述的隔聲測試方法，其特征在于，所述將所述箱體內的溫度調節至測試所需溫度包括，線性地調節在測試過程中所述箱體內的環境溫度在-50℃-0℃的溫度范圍內變化。

11.如權利要求8所述的隔聲測試方法，其特征在于，所述將所述箱體內的氣壓調節至測試所需氣壓包括，線性地調節在測試過程中所述傳聲器陣列所包含的多個傳聲器陣元所測得的氣壓，使之穩定地維持在目標氣壓附近。