[發(fā)明專利]一種信號測試方法、系統(tǒng)、裝置及可讀存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010344724.3
• 申請日: 2020-04-27
• 公開（公告）號: CN111552600B
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 余華國
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 劉翠香

本申請公開了一種信號測試方法，包括：啟動腳本程序，以控制對應(yīng)板卡的CPU，使所述CPU的功耗發(fā)生動態(tài)變化；對當(dāng)前CPU狀態(tài)下的所述板卡進行發(fā)送端測試和接收端測試，并獲取對應(yīng)的第一測試結(jié)果；所述第一測試結(jié)果包括眼高測試數(shù)據(jù)和眼寬測試數(shù)據(jù)。本申請利用腳本程序控制CPU的功耗發(fā)生動態(tài)變化，也即為板卡信號提供了電源動態(tài)噪聲的測試環(huán)境，在該測試環(huán)境下得到的第一測試結(jié)果能夠明顯體現(xiàn)電源動態(tài)噪聲對信號品質(zhì)的影響，為產(chǎn)品質(zhì)量和設(shè)計優(yōu)化提供可靠的依據(jù)。相應(yīng)的，本申請還公開了一種具有相同有益效果的信號測試系統(tǒng)、裝置及可讀存儲介質(zhì)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電路設(shè)計及測試領(lǐng)域，特別涉及一種信號測試方法、系統(tǒng)、裝置及可讀存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著計算機技術(shù)的快速發(fā)展，作為外設(shè)互連主要接口的PCIe(peripheralcomponent interconnect express，總線和接口標(biāo)準(zhǔn))信號數(shù)據(jù)傳輸速率不斷提高，其在復(fù)雜板級系統(tǒng)的信號完整性風(fēng)險也隨之增大。因此PCIe信號完整性測試已成為服務(wù)器或交換機等高端電子產(chǎn)品必不可少的項目。且在PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)的設(shè)計過程中，由于板卡的高密度及有限的布線空間，PCIe信號走線不可避免的會靠近或穿過開關(guān)電源區(qū)域，實測時更需要考慮到電源噪聲對信號的不利影響。

當(dāng)前的PCIe測試方法有兩種，一種是基于CPU在ideal或低功耗狀態(tài)下進行的PCIe信號完整性測試，這種方法不能覆蓋電源動態(tài)噪聲對信號品質(zhì)的影響，只能通過后期性能測試來識別設(shè)計風(fēng)險，進而導(dǎo)致產(chǎn)品開發(fā)周期的延長；另一種測試方法則是單純測試電源噪聲對PCIe信號的影響，這種方法基于VRTT模擬CPU動態(tài)拉載，測量測試PCIe走線上耦合到的電源信號。但是，單元噪聲在差分信號線P、N上基本相當(dāng)，在接收端作差運算后，電源噪聲對PCIe信號的實際影響變得不明顯，因此這種方法同樣無法直接表征PCIe信號收電源噪聲影響的強弱。

因此，如何提供一種解決上述技術(shù)問題的方案是目前本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠測試電源動態(tài)噪聲對信號影響的信號測試方法、系統(tǒng)、裝置及可讀存儲介質(zhì)。其具體方案如下：

一種信號測試方法，包括：

啟動腳本程序，以控制對應(yīng)板卡的CPU，使所述CPU的功耗發(fā)生動態(tài)變化；

對當(dāng)前CPU狀態(tài)下的所述板卡進行發(fā)送端測試和接收端測試，并獲取對應(yīng)的第一測試結(jié)果；

所述第一測試結(jié)果包括眼高測試數(shù)據(jù)和眼寬測試數(shù)據(jù)。

優(yōu)選的，所述信號測試方法還包括：

獲取所述CPU在低功耗狀態(tài)或ideal狀態(tài)下時，所述板卡對應(yīng)的第二測試結(jié)果；

比對所述第一測試結(jié)果和所述第二測試結(jié)果，以獲取電源噪聲對信號的實際影響量。

優(yōu)選的，所述獲取對應(yīng)的第一測試結(jié)果之后，還包括：

判斷所述第一測試結(jié)果是否滿足spec；

若否，則重新設(shè)計所述板卡的布線，再執(zhí)行所述腳本程序的步驟。

優(yōu)選的，所述啟動腳本程序，以控制對應(yīng)板卡的CPU，使所述CPU的功耗發(fā)生動態(tài)變化的過程，具體包括：

啟動腳本程序；

通過所述腳本程序控制對應(yīng)板卡的CPU，使所述CPU的功耗發(fā)生動態(tài)變化并輸出開關(guān)電源的動態(tài)噪聲，以達到所述板卡對應(yīng)的極限測試環(huán)境。

優(yōu)選的，所述發(fā)送端測試具體包括：

通過示波器和測試治具，獲取當(dāng)前CPU狀態(tài)下的所述板卡的發(fā)送端測試結(jié)果；

所述接收端測試具體包括：