[發(fā)明專利]一種基于投影均值圖像的環(huán)狀偽影快速校正方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010336246.1
• 申請日: 2020-04-24
• 公開（公告）號: CN111553960B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 安康;伍偉文;王玨
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶大學(xué)
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 北京同恒源知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275
• 代理人: 趙榮之

1.一種基于投影均值圖像的環(huán)狀偽影快速校正方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1：投影圖像預(yù)處理：通過對亮場圖像和暗場圖像設(shè)定閾值找出壞像元與有缺陷像元，應(yīng)用插值方法替換掉這些像元后再完成增益校正；

S2：獲得投影均值圖像：將增益校正后的所有投影圖像對應(yīng)像元相加后求均值，得到基于所有投影圖像的投影均值圖像；

S3：獲得校正系數(shù)陣列：選用適當(dāng)?shù)臑V波方式對投影均值圖像進(jìn)行平滑濾波，得到平滑的理想投影均值圖像，通過投影均值圖像與理想投影均值圖像得到校正系數(shù)陣列；

S4：投影圖像校正：運(yùn)用校正系數(shù)陣列對每個投影圖像進(jìn)行校正；

步驟S1具體包括：

令探測器像元陣列M×N，掃描投影數(shù)為K，通過掃描得到暗場圖像B，亮場圖像A，投影圖像集P_n；

設(shè)置合適的閾值Z1,Z2,Z3，通過公式(1)-(4)去除CT圖像中壞像元與缺陷像元，得到帶零像元的增益校正圖像Ga；

map(i,j)＝mapa(i,j)×mapb(i,j)?i＝1,2,3...M；j＝1,2,3...N?(3)

Ga(i,j)＝A(i,j)×map(i,j)-B(i,j)×map(i,j)?i＝1,2,3...M；j＝1,2,3...N?(4)

其中mapa(i,j)表示暗場圖像壞像元與缺陷像元分布，B(i,j)表示暗場圖像，mapb(i,j)表示亮場圖像壞像元與缺陷像元分布，A(i,j)表示亮場圖像，map(i,j)表示綜合暗場圖像與亮場圖像后的壞像元與缺陷像元分布；

通過數(shù)據(jù)插值，去除Ga中零像元得到增益校正圖像Ga′；

通過公式對(5)(6)，對每個投影圖像進(jìn)行增益校正，得到增益校正后帶零像元的投影圖像集Pg_n，通過插值去除零像元,得到完成預(yù)處理的投影圖像集Pg_n′；

其中，Gaver表示增益校正圖像所有像元均值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于投影均值圖像的環(huán)狀偽影快速校正方法，其特征在于：步驟S2通過公式(7)計算得到所有投影均值圖像Pa：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于投影均值圖像的環(huán)狀偽影快速校正方法，其特征在于：在步驟S3中，選用濾波算法對Pa進(jìn)行平滑濾波，得到濾波后的理想投影均值圖像Pa′，通過公式(8)計算得到校正系數(shù)陣列：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于投影均值圖像的環(huán)狀偽影快速校正方法，其特征在于：在步驟S4中，運(yùn)用校正系數(shù)陣列，通過公式(9)完成對所有投影圖像的校正得到校正后的投影圖像集Pg_n″，Pg_n″很好的保留了投影圖像集Pg_n′對比度信息；

Pg_n″(i,j)＝Pg_n′(i,j)×Coe(i,j)?i＝1,2,3...M；j＝1,2,3...N；n＝1,2,3...K?(9)。