[發明專利]一種微米級別同心度檢測器及其檢測方法

在審

• 申請號: 202010332565.5
• 申請日: 2020-04-24
• 公開（公告）號: CN111256568A
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發明（設計）人: 李向陽;游俊裕;高永濤
• 申請（專利權）人: 河南鑫宇光科技股份有限公司
• 主分類號: G01B5/252
• 分類號: G01B5/252
• 代理公司: 焦作市科彤知識產權代理事務所(普通合伙) 41133
• 代理人: 鄭菊梅

本發明涉及一種微米級別同心度檢測器及其檢測方法，包括水平旋轉機構、表夾和千分表，水平旋轉機構包括底板、軸承座和轉軸，轉軸通過軸承轉動連接在軸承座上，轉軸的兩端均伸出軸承座，且轉軸的一端連接有旋轉把手，另一端插設有連接套筒，連接套筒內插設有第一陶瓷插芯，第一陶瓷插芯遠離連接套筒的一端與光纖適配器相連接，表夾連接在軸承座上，表夾上設有夾表孔和與夾表孔相對應的夾緊螺絲，千分表的表桿穿過夾表孔并被夾緊螺絲鎖緊，千分表的表頭與轉軸的軸向相垂直，千分表的表頭與光纖適配器的前蓋外周相接觸，轉軸旋轉一周，根據千分表的高度變化算出光纖適配器的前蓋與其內的陶瓷插芯的同心度，檢測精度和效率高。

技術領域

本發明屬于光纖適配器同心度檢測裝置技術領域，具體地，涉及一種微米級別同心度檢測器及其檢測方法。

背景技術

隨著5G通訊的高速發展，對于其設備的性能要求也越來越高，對于光纖適配器的陶瓷插芯與前蓋的同心度要求也越來越高，以此來滿足兩根光纖在9μm的半徑內進行更高要求的對接，在光傳輸中更低的損耗，更高的通過率，以此來滿足5G高寬帶下進行傳輸性能的要求，現有技術中光纖適配器的陶瓷插芯已經嵌入金屬里面無法找到基準點來對其進行定位校準。陶瓷插芯更難于與適配前蓋的外徑進行同心度的測量，從而無法保證及測試出陶瓷插芯與前蓋的同心度要求，造成適配器與另一端陶瓷插芯對接時出現錯位，造成傳輸的性能低，出現傳輸數據的大量丟失。

因此，亟需一種微米級別同心度檢測器及檢測方法，以實現光纖適配器與陶瓷插芯的同心度的精確檢測，保證數據傳輸質量。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種微米級別同心度檢測器，包括水平旋轉機構、表夾和千分表，所述水平旋轉機構包括底板、軸承座和轉軸，所述轉軸通過軸承轉動連接在軸承座上，所述軸承座連接在底板上，所述轉軸的兩端均伸出軸承座，且轉軸的一端連接有旋轉把手，另一端同軸插接有連接套筒，所述連接套筒內同軸插接有第一陶瓷插芯，所述第一陶瓷插芯遠離連接套筒的一端與光纖適配器同軸連接，所述表夾通過螺栓連接在軸承座上，所述表夾上設有夾表孔和與夾表孔相對應的夾緊螺絲，所述千分表的表桿穿過夾表孔并被夾緊螺絲鎖緊，所述千分表的表頭與轉軸的軸向相垂直，且千分表的表頭與光纖適配器的前蓋的外周相接觸。

優選的，所述光纖適配器內設有陶瓷套筒和第二陶瓷插芯，所述陶瓷套筒的筒壁上沿長度方向設有開口，且陶瓷套筒的內徑為1.246㎜，所述第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的外徑均為1.249mm，且第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯均與陶瓷套筒無間隙配合。保證光纖適配器的前蓋與第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度測量的準確性。

本發明還包括能夠使該微米級別同心度檢測器正常使用的其它組件，均為本領域的常規技術手段。另外，本發明中未加限定的裝置或組件均采用本領域中的常規技術手段。

作為本發明的另一方面，本發明提供了一種微米級別同心度檢測器的檢測方法，包括如下步驟：

1）從光纖適配器的前蓋端外接第一陶瓷插芯，將第一陶瓷插芯插入光纖適配器的陶瓷套筒內，使第一陶瓷插芯與光纖適配器內的第二陶瓷插芯同心；

2）將第一陶瓷插芯遠離光纖適配器的一端插入水平旋轉機構的轉軸上的連接套筒內，通過千分表的表頭對光纖適配器的前蓋的外周進行接觸式測量；

3）通過轉動旋轉把手，使光纖適配器旋轉一周，根據千分表的高度變化算出光纖適配器的前蓋與第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度。

本發明通過在光纖適配器上外接一個與光纖適配器內部的第二陶瓷插芯同心的第一陶瓷插芯，并將外接的第一陶瓷插芯插接到水平旋轉機構的轉軸上的連接套筒內，轉動旋轉把手使光纖適配器旋轉一周，通過水平旋轉機構上的千分表對光纖適配器的前蓋的外周進行測量，根據千分表的高度變化算出光纖適配器的前蓋與第一陶瓷插芯和第二陶瓷插芯的同心度。