[發明專利]一種寫放大系數測試方法、裝置及電子設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010327110.4
• 申請日: 2020-04-23
• 公開（公告）號: CN111540400B
• 公開（公告）日: 2022-10-25
• 發明（設計）人: 賈祥玉
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王曉坤

1.一種寫放大系數測試方法，其特征在于，包括：

在固態硬盤滿配狀態下，對所有固態硬盤進行初始化，并將所述所有固態硬盤劃分為預設數量的硬盤組；

分別對各個硬盤組進行預處理，以使各組硬盤處于不同的數據讀寫狀態，并確定預處理后各個硬盤的第一寫入數據量；

基于預設讀寫策略對預處理后的各個硬盤進行預設時間段的讀寫，并在讀寫完成之后獲取各個硬盤的第二寫入數據量；

結合所述第一寫入數據量和所述第二寫入數據量，確定各個硬盤的寫放大系數，得到測試結果；

其中，所述結合所述第一寫入數據量和所述第二寫入數據量，確定各個硬盤的寫放大系數，包括：

基于系數計算公式，結合所述第一寫入數據量和所述第二寫入數據量，確定各個硬盤的寫放大系數，所述系數計算公式為：；

其中，為第一主機寫入數據量，為第一內存寫入數據量，為第二主機寫入數據量，為第二內存寫入數據量，為寫放大系數。

2.根據權利要求1所述的寫放大系數測試方法，其特征在于，所述在固態硬盤滿配狀態下，對所有固態硬盤進行初始化，并將所述所有固態硬盤劃分為預設數量的硬盤組，包括：

在固態硬盤滿配狀態下進行冷啟動，并在啟動后對所述所有固態硬盤進行低級格式化處理，以使各個固態硬盤均為預設格式；

在低級格式化處理之后，卸載原始的NVMe驅動，并重新加載NVMe驅動；

對所述所有固態硬盤進行分組，得到第一硬盤組、第二硬盤組和第三硬盤組。

3.根據權利要求2所述的寫放大系數測試方法，其特征在于，所述分別對各個硬盤組進行預處理，以使各組硬盤處于不同的數據讀寫狀態，包括：

分別確定各個硬盤組對應的寫入策略，所述寫入策略包括塊大小、隊列深度、寫入次數、寫入方式、寫入范圍和寫入時間中任一項或任幾項的組合；

基于所述寫入策略分別對各個硬盤組中的硬盤進行寫入操作，以使各組硬盤處于不同的數據讀寫狀態。

4.根據權利要求1所述的寫放大系數測試方法，其特征在于，所述確定預處理后各個硬盤的第一寫入數據量，包括：

在對各個硬盤預處理完成后，確定各個硬盤的第一主機寫入數據量和第一內存寫入數據量。

5.根據權利要求1至4任一項所述的寫放大系數測試方法，其特征在于，所述基于預設讀寫策略對預處理后的各個硬盤進行預設時間段的讀寫，并在讀寫完成之后獲取各個硬盤的第二寫入數據量，包括：

基于預設讀寫策略對預處理后的各個硬盤進行預設時間段的讀寫，所述預設讀寫策略包括預設讀寫比例、預設塊大小、預設隊列深度、預設并行模式和寫入模式中的任一項或任幾項的組合；

在讀寫完成之后獲取各個硬盤的第二主機寫入數據量和第二內存寫入數據量。

6.根據權利要求5所述的寫放大系數測試方法，其特征在于，所述結合所述第一寫入數據量和所述第二寫入數據量，確定各個硬盤的寫放大系數，得到測試結果，包括：

確定各個硬盤的寫放大系數，并計算各個硬盤組的平均寫放大系數；

判斷各個寫放大系數是否均小于第一預設閾值，并判斷任意兩個硬盤組的平均寫放大系數之間的差值是否小于第二預設閾值；

如果均是，則判定各個硬盤的性能測試結果為通過。