[發明專利]色度計匹配方法、色度計、色度計校正方法及系統

在審

• 申請號: 202010319621.1
• 申請日: 2020-04-22
• 公開（公告）號: CN111504465A
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 馬駿;楊康
• 申請（專利權）人: 上海精測半導體技術有限公司
• 主分類號: G01J3/50
• 分類號: G01J3/50
• 代理公司: 蘇州友佳知識產權代理事務所(普通合伙) 32351
• 代理人: 陳德霞

1.一種色度計匹配方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取光纖輸入端的通光芯徑，以基于所述光纖輸入端的通光芯徑確定光纖輸入端的張角并基于所述光纖輸入端的張角確定透鏡的視場角；

控制待測區域發射的目標光線以所述視場角入射至透鏡后以所述張角入射至光纖的輸入端，以使所述目標光線從所述光纖的輸出端射出；

控制由所述光纖的輸出端出射的目標光線入射至光譜儀，其中，所述光纖的輸出端的端面輪廓與所述光譜儀的接收端的狹縫輪廓相匹配。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述光纖輸入端的通光芯徑確定光纖輸入端的張角，包括：

獲取所述透鏡的通光孔徑和光纖的數值孔徑；

基于所述通光孔徑和所述數值孔徑確定透鏡的焦距其中，θ＝arcsin(NA)，θ為所述光纖輸入端的孔徑角，NA為光纖的數值孔徑，D為所述透鏡的通光孔徑；

基于所述光纖輸入端的通光芯徑和所述焦距確定所述光纖輸入端的張角其中，α＝β/2，α為所述透鏡的視場角，d為所述光纖輸入端的通光芯徑。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述光譜儀的接收端的狹縫輪廓為矩形狀；

所述光纖的輸出端的端面輪廓為多個子光纖排布形成的矩形狀。

4.一種色度計校正方法，應用于權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，所述校正方法包括：

獲取輔助光源所發射光線的特征峰對應的預設波長值；

獲取所述光譜儀的光譜數據，以基于所述光譜數據確定每一特征峰對應的波長值；

基于所述預設波長值與所述每一特征峰對應的波長值確定波長擬合修正值，以基于所述波長擬合修正值對所述光譜儀的目標測量值進行修正。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在獲取輔助光源的特征峰對應的預設波長值之前，包括：

啟動所述輔助光源，以使所述輔助光源在預設時間內進行預熱。

6.一種色度計，其特征在于，包括：

用于接收待測區域發射的目標光線的透鏡，其中，所述目標光線以所述透鏡的視場角入射至所述透鏡；

用于接收由所述透鏡出射的目標光線的光纖，其中，所述目標光線以光纖輸入端的張角入射至所述光纖的輸入端，所述張角基于所述光纖輸入端的通光芯徑確定，所述視場角基于所述張角確定；以及

用于接收由所述光纖的輸出端出射的目標光線的光譜儀；

其中，所述光纖的輸出端的端面輪廓與所述光譜儀的接收端的狹縫輪廓相匹配。

7.根據權利要求6所述的色度計，其特征在于，

所述光纖輸入端的張角所述透鏡的視場角α＝β/2；

其中，d為所述光纖輸入端的通光芯徑，f為所述透鏡的焦距，且D為所述透鏡的通光孔徑，θ為所述光纖輸入端的孔徑角，且θ＝arcsin(NA)，NA為光纖的數值孔徑。

8.根據權利要求6所述的色度計，其特征在于，

所述光譜儀的接收端的狹縫輪廓為矩形狀；

所述光纖的輸出端的端面輪廓為多個子光纖排布形成的矩形狀。

9.一種色度計校正系統，應用于權利要求6-8中任一項所述的色度計，其特征在于，所述校正系統包括：

用于獲取輔助光源所發射光線的特征峰對應的預設波長值且用于獲取所述光譜儀的光譜數據的獲取單元；

數據處理單元，根據所述光譜數據確定每一特征峰對應的波長值，并根據所述預設波長值與所述每一特征峰對應的波長值確定波長擬合修正值；

所述光譜儀接收所述波長擬合修正值，以根據所述波長擬合修正值對目標測量值進行修正。

10.根據權利要求9所述的校正系統，其特征在于，還包括：

準直鏡，用于接收所述輔助光源發射的光線并向勻光片發射準直的光線；以及

勻光片，用于將所述準直鏡發射的準直光線轉換為均勻的光線，以得到所述目標光線。